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JB/T 8271-2015 静电复印光导体表面缺陷比对版

Comparison scale for surface defect of photoconductor of electrostatic copying process
基本信息
  • 标准号:
    JB/T 8271-2015
  • 名称:
    静电复印光导体表面缺陷比对版
  • 英文名称:
    Comparison scale for surface defect of photoconductor of electrostatic copying process
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    行业标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2015-04-30
  • 实施日期:
    2015-10-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    实施公告【2015年第6号(总第186号)】
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分类信息
  • ICS分类:
    成像技术(37) 印制技术(37.100) 印刷技术综合(37.100.01)
  • CCS分类:
    仪器、仪表(N) 电影、照相、缩微、复印设备(N40/49) 缩微复印机械(N47)
  • 行标分类:
    机械(JB)
描述信息
  • 前言:
    本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
    本标准代替JB/T 8271-1999《静电复印感光体表面缺陷测试版》,与JB/T 8271-1999相比主要技术变化如下:
    ——标准名称改为“静电复印光导体表面缺陷比对版”;
    ——将范围中的感光体改为光导体,删除了硒鼓、硫化镉鼓等已不再使用的感光体(见第1章,1999年版的第1章);
    ——增加了规范性引用文件(见第2章);
    ——增加了制版胶片厚度的要求,修改了胶片透射度的要求(见3.1.1,1999年版的2.1.1和2.1.5);
    ——修改了缺陷版的结构图及图样(见图1和图2,1999年版的图1和图2);
    ——修改了缺陷版的结构及内容的描述(见3.1.2,1999年版的2.1.2);
    ——修改了缺陷版基本尺寸及偏差(见表1,1999年版的表1);
    ——修改了缺陷版的试验条件(见4.1,1999年版的3.1);
    ——修改了缺陷版缺陷图的检测方法(见4.2.2、4.2.3,1999年版的3.2);
    ——修改了制版胶片的检测方法(见4.2.1和4.2.2,1999年版的3.3);
    ——删除了新产品鉴定及老产品改型的检验(1999年版的4.3);
    ——修改了缺陷版的贮存环境温湿度(见6.5,1999年版的6.5);
    ——删除了缺陷版的使用方法(1999年版的附录A)。
    本标准由中国机械工业联合会提出。
    本标准由全国复印机械标准化技术委员会(SAC/TC 147)归口。
    本标准起草单位:天津复印技术研究所、珠海天威飞马打印耗材有限公司、夏普办公设备(常熟)有限公司、佳能(中国)有限公司、无锡佳腾磁性粉有限公司、联想(北京)有限公司、柯尼卡美能达(中国)投资有限公司、上海富士施乐有限公司、理光图像技术(上海)有限公司深圳分公司、兄弟(中国)商业有限公司、三星电子(山东)数码打印机有限公司。
    本标准主要起草人:马燕、张希平、王强、鲁俊和、周学良、范志国、陈挺、仇相如、刘生应、麦洪琦、李妍。
    本标准所代替标准的历次版本发布情况为:
    ——JB/T 8271-1995(GB 10999-1989)、JB/T 8271-1999。
  • 适用范围:
    本标准规定了静电复印光导体表面缺陷比对版的技术要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存的要求。本标准适用于静电复印(打印、传真、多功能)设备用的光导体的表面缺陷及在印品上对应的印迹缺陷的检测。
  • 引用标准:
    下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
    GB/T 11500-2008 摄影 密度测量 第2部分:透射密度的几何条件
    GB/T 11501-2008 摄影 密度测量 第3部分:光谱条件
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