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JB/T 8268-2015 静电复印光导体表面缺陷测量方法

Test method of surface defect for photoconductor of electrostatic copying process
基本信息
  • 标准号：
    JB/T 8268-2015
  • 名称：
    静电复印光导体表面缺陷测量方法
  • 英文名称：
    Test method of surface defect for photoconductor of electrostatic copying process
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    行业标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2015-04-30
  • 实施日期：
    2015-10-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    实施公告【2015年第6号(总第186号)】
分类信息
描述信息
  • 前言：
    本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
    本标准代替JB/T 8268-1999《静电复印感光体表面缺陷测量方法》，与JB/T 8268-1999相比主要技术变化如下：
    ——修改了标准名称，感光体改为光导体；
    ——将适用范围中的感光体改为光导体，删除了硒鼓、硫化镉鼓等已不再使用的感光体，删除了反光镜可参照使用（见第1章，1999年版的第1章）；
    ——修改了规范性引用文件（见第2章，1999年版的第2章）；
    ——修改了测量环境条件（见3.1，1999年版的3.1）；
    ——将有效测量范围放入了测量方法中，删除了测量范围示意图（见4.1.2，1999年版的3.2和图1）；
    ——增加了测试用样机的要求（见3.2）；
    ——修改了测量方法的编排格式（见第4章，1999年版的第4章）；
    ——修改了目视检查的方法（见4.1，1999年版的4.1），删除了目视检查鼓表面示意图（见1999年版的图2）；
    ——把缺陷版检查改为对比测量，并修改了检查方法（见4.2，1999年版的4.2）；
    ——修改了背景印迹的测量方法（见4.3，1999年版的4.3）；
    本标准由中国机械工业联合会提出。
    本标准由全国复印机械标准化技术委员会（SAC/TC 147）归口。
    本标准起草单位：天津复印技术研究所、珠海天威飞马打印耗材有限公司、夏普办公设备（常熟）有限公司、理光图像技术（上海）有限公司深圳分公司、湖北鼎龙化学股份有限公司、柯尼卡美能达（中国）投资有限公司、上海富士施乐有限公司、兄弟（中国）商业有限公司、东芝泰格信息系统（深圳）有限公司、佳能（中国）有限公司。
    本标准主要起草人：刘慧玲、张希平、王强、刘生应、鲁丽平、陈挺、仇相如、麦洪琦、陈颂昌、鲁俊和。
    本标准所代替标准的历次版本发布情况为：
    ——JB/T 8268-1995（GB 10996-1989）、JB/T 8268-1999。
  • 适用范围：
    本标准规定了静电复印光导体表面缺陷的测量条件、测量方法及测量报告。
    本标准适用于静电复印（打印、传真、多功能）设备用的光导体的外观质量及背景印迹的测量。
  • 引用标准：
    下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
    JB/T 8271 静电复印光导体表面缺陷比对版
    JB/T 8273 静电复印全黑测试版
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