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YS/T 543-2015 半导体键合用铝-1%硅细丝
Standard specification for fine aluminum-1% silicon wire for semiconductor lead-bonding
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
电气工程（29）
半导体材料（29.045）
】
-
CCS分类：
【
冶金（H）
有色金属及其合金产品（H60/69）
轻金属及其合金（H61）
】
-
行标分类：
描述信息
-
前言：
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准代替YS/T543—2006《半导体键合用铝-1%硅细丝》。
本标准与YS/T543—2006相比,主要技术变化如下:
———增加并调整了牌号、类别、尺寸规格;
———增加了化学成分中Mg、B、V 杂质元素的要求;
———增加了拉断力、断后伸长率波动范围;
———增加了资料性附录A,细丝表面典型缺陷;
———增加了规范性附录B,细丝长度测量方法;
———增加了规范性附录C,细丝表面质量检验方法。
本标准由全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC243)提出并归口。
本标准主要起草单位:新疆众和股份有限公司、北京有色金属与稀土应用研究所、江阴市超精达铝塑有限公司、山东兖矿轻合金有限公司、北京达博有色金属焊料有限责任公司、东北轻合金有限责任公司。
本标准主要起草人:吴斌、宋玉萍、努力古、史秀梅、徐岳兴、杨枭、焦磊、温伟、高新宇、杜连民。
本标准所代替标准的历次版本发布情况为:
———YS/T543—2006。
-
适用范围：
本标准规定了半导体器件键合用铝-1%硅细丝的要求、试验方法、检验规则及包装、标志、运输、贮存及质量证明书与订货单（或合同）内容。
本标准适用于半导体内引线用拉制或挤压铝-1%硅细丝（以下简称细丝）。
-
引用标准：
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T3199 铝及铝合金加工产品 包装、标志、运输、贮存
GB/T7999 铝及铝合金光电直读发射光谱分析方法
GB/T8170 数值修约规则与极限数值的表示和判定
GB/T10573 有色金属细丝拉伸试验方法
GB/T17432 变形铝及铝合金化学分析取样方法
GB/T20975(所有部分) 铝及铝合金化学分析方法
YS/T871 高纯铝化学分析方法 痕量元素的测定 辉光放电质谱法
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