收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 31474-2015 电子装联高质量内部互连用助焊剂
Soldering fluxes for high-quality interconnections in electronics assembly
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电气工程(29)
半导体材料(29.045)
】
-
CCS分类:
【
冶金(H)
金属理化性能试验方法(H20/29)
金属物理性能试验方法(H21)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
-
前言:
本标准与 GB/T31475—2015《电子装联高质量内部互连用焊锡膏》和 GB/T31476—2015《电子装联高质量内部互连用焊料》构成完整的电子焊接材料标准系列。
本标准按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本标准由全国印制电路标准化技术委员会(SAC/TC47)归口。
本标准起草单位:深圳市唯特偶化工开发实业有限公司、确信爱法金属(深圳)有限公司、重庆理工大学、信息产业部专用材料质量监督检验中心、中国电子技术标准化研究院、浙江强力焊锡材料有限公司、广东安臣锡品制造有限公司、云南锡业股份有限、浙江一远电子科技有限公司、广西泰星电子焊接材料有限公司。
本标准起草人:王永、余瑜、陈方、王金钢、赵图强、冼陈列、李志红、古列东、余洪桂、伍永田。
-
适用范围:
本标准规定了电子装联用高质量内部互连用助焊剂(简称助焊剂)的分类、技术要求、试验方法、检测规则和产品的标识、包装、运输、储存。
本标准主要适用于印制板组装及电气和电子电路接点锡焊用助焊剂。
-
引用标准:
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB190 危险货物包装标志
GB/T191 包装储运图示标志
GB/T2040 纯铜板
GB/T2423.16 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验J及导则:长霉
GB/T2423.32—2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验 Ta:润湿称量法可焊性
GB/T8145 脂松香
GB/T21652 铜及铜合金线材
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 6148-1985
精密电阻合金电阻温度系数测试方法
-
GB 2523-1990
冷轧薄钢板(带)表面粗糙度 测量方法
-
YS/T 366-1994
贵金属及其合金材料对铜热电势测量方法
-
YB/T 5336-2006
高速钢中碳化物相的定量分析 X射线衍射仪法
-
SJ/T 11504-2015
碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法
-
GB/T 8763-2020
非蒸散型吸气材料及制品吸气性能测试方法
-
YS/T 455.3-2003
铝箔试验方法 第3部分:铝箔粘附性试验方法
-
YB/T 4293-2012
双管直流磁性能测量方法
-
GB/T 16596-2019
确定晶片坐标系规范
-
GB/T 26071-2018
太阳能电池用硅单晶片
-
GB/T 6146-2010
精密电阻合金电阻率测试方法
-
GB/T 11073-1989
硅片径向电阻率变化的测量方法
-
YS/T 455.7-2006
铝箔试验方法 第7部分:铝箔厚度的测定 称量法
-
GB/T 13387-1992
电子材料晶片参考面长度测量方法
-
GB/T 32651-2016
采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法
-
SJ/T 11487-2015
半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法
-
YS/T 617.8-2007
铝、镁及其合金粉理化性能测定方法 第8部分: 松装密度的测定
-
GB/T 13012-2008
软磁材料直流磁性能的测量方法
-
GB/T 14140.1-1993
硅片直径测量方法 光学投影法
-
GB/T 13388-2009
硅片参考面结晶学取向X射线测试方法