收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 5838.43-2015 荧光粉 第4-3部分:示波管和显示管用荧光粉
Phosphors—Part 4-3: Phosphor for oscilloscope tubes and display tubes基本信息
- 标准号:GB/T 5838.43-2015
- 名称:荧光粉 第4-3部分:示波管和显示管用荧光粉
- 英文名称:Phosphors—Part 4-3: Phosphor for oscilloscope tubes and display tubes
- 状态:现行
- 类型:国家标准
- 性质:推荐性
- 发布日期:2015-05-15
- 实施日期:2016-01-01
- 废止日期:暂无
- 相关公告:
分类信息
- ICS分类:暂无
- CCS分类:【 】
- 行标分类:暂无
描述信息
- 前言:GB/T5838《荧光粉》系列国家标准包括以下部分:
———第1部分:术语;
———第2部分:牌号;
———第3部分:性能试验方法;
———第4-1部分:黑白显示管用荧光粉;
———第4-2部分:指示管用荧光粉;
———第4-3部分:示波管和显示管用荧光粉;
———第4-4部分:彩色显像管用荧光粉;
———第4-5部分:彩色显示管用荧光粉。
本部分是 GB/T5838的第4-3部分。
本部分按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本部分代替 GB/T10308—1988《示波管和显示管用 Y1荧光粉》、GB/T10309—1988《示波管和显
示管用 Y14荧光粉》和 GB/T10317—1988《示波管和显示管用 Y10荧光粉》。
本部分与 GB/T10308—1988、GB/T10309—1988和 GB/T10317—1988三个标准相比主要变化如下:
———将 GB/T10308—1988、GB/T10309—1988和 GB/T10317—1988三个标准整合为一个标准;
———增加了“前言”“规范性引用文件”及“要求”等章节(见第2章、第3章);
———标准名称中删除了牌号内容;
———对荧光粉水溶性氯化物含量要求进行了加严调整(见3.6);
———对荧光粉质量中心粒径要求进行了加严调整(见3.5)。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)归口。
本部分起草单位:信息产业部专用材料质量监督检验中心、中国电子科技集团公司第四十六研究所、中国电子技术标准化研究院。
本部分主要起草人:何秀坤、段曙光、裴会川。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB/T10308—1988;
———GB/T10309—1988;
———GB/T10317—1988。 - 适用范围:本部分规定了示波管和显示管用荧光粉的要求、试验方法、检验规则、包装、运输和储存。本部分适用于示波管和显示管用荧光粉。
- 引用标准:下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T191 包装储运图示标志
GB/T31418.3—2015 荧光粉 第3部分:性能试验方法
相关标准
- 代替标准:GB/T 10317-1988 GB/T 10308-1988 GB/T 10309-1988
- 引用标准:GB/T 191 GB/T 31418.3-2015
相关部门
- 起草单位:中国电子技术标准化研究院 中国电子科技集团公司第四十六研究所 信息产业部专用材料质量监督检验中心
- 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)
- 主管部门:国家标准化管理委员会
相关人员
暂无
关联标准
- GB/T 31417-2015 等离子显示器用荧光粉
- GB 11297.4-1989 掺钕钇铝石榴石激光棒长脉冲激光阈值及斜率效率的测量方法
- GB/T 6426-1999 铁电陶瓷材料电滞回线的准静态测试方法
- T/CEMIA 021-2019 厚膜集成电路用电阻浆料规范
- SJ 20848-2002 钼铜合金棒规范
- GB/T 5596-1996 电容器用陶瓷介质材料
- GB 11446.11-1989 电子级水中细菌总数的平皿培养测试方法
- GB/T 4184-2002 钨铼合金丝
- SJ 669-1973 DW-216电真空玻璃主要技术数据
- GB/T 11446.5-1997 电子级水中痕量金属的原子吸收分光光度测试方法
- GB/T 14620-2013 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
- SJ/T 11507-2015 集成电路用 氧化层缓冲腐蚀液
- SJ 673-1983 DM-308电真空玻璃主要技术数据
- SJ/T 3326-2001 陶瓷--金属封接抗拉强度测试方法
- SJ/T 3328.3-2016 电子产品用高纯石英砂 第3部分 灼烧失量的测定
- GB/T 11297.10-2015 热释电材料居里温度Tc的测试方法
- SJ 677-1983 DB-402电真空玻璃主要技术数据
- SJ/T 3328.10-2016 电子产品用高纯石英砂 第10部分 铅的测定
- SJ 2414-1983 DB-495电真空玻璃主要技术数据
- GB/T 37406-2019 电子封装用球形二氧化硅微粉球形度的检测方法 颗粒动态光电投影法