收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 5838.43-2015 荧光粉 第4-3部分:示波管和显示管用荧光粉
Phosphors—Part 4-3: Phosphor for oscilloscope tubes and display tubes
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
暂无
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
电子设备与专用材料、零件、结构件(L90/94)
电子技术专用材料(L90)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
-
前言:
GB/T5838《荧光粉》系列国家标准包括以下部分:
———第1部分:术语;
———第2部分:牌号;
———第3部分:性能试验方法;
———第4-1部分:黑白显示管用荧光粉;
———第4-2部分:指示管用荧光粉;
———第4-3部分:示波管和显示管用荧光粉;
———第4-4部分:彩色显像管用荧光粉;
———第4-5部分:彩色显示管用荧光粉。
本部分是 GB/T5838的第4-3部分。
本部分按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本部分代替 GB/T10308—1988《示波管和显示管用 Y1荧光粉》、GB/T10309—1988《示波管和显
示管用 Y14荧光粉》和 GB/T10317—1988《示波管和显示管用 Y10荧光粉》。
本部分与 GB/T10308—1988、GB/T10309—1988和 GB/T10317—1988三个标准相比主要变化如下:
———将 GB/T10308—1988、GB/T10309—1988和 GB/T10317—1988三个标准整合为一个标准;
———增加了“前言”“规范性引用文件”及“要求”等章节(见第2章、第3章);
———标准名称中删除了牌号内容;
———对荧光粉水溶性氯化物含量要求进行了加严调整(见3.6);
———对荧光粉质量中心粒径要求进行了加严调整(见3.5)。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)归口。
本部分起草单位:信息产业部专用材料质量监督检验中心、中国电子科技集团公司第四十六研究所、中国电子技术标准化研究院。
本部分主要起草人:何秀坤、段曙光、裴会川。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB/T10308—1988;
———GB/T10309—1988;
———GB/T10317—1988。
-
适用范围:
本部分规定了示波管和显示管用荧光粉的要求、试验方法、检验规则、包装、运输和储存。本部分适用于示波管和显示管用荧光粉。
-
引用标准:
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T191 包装储运图示标志
GB/T31418.3—2015 荧光粉 第3部分:性能试验方法
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB 11446.1-1989
电子级水
-
SJ 1858-1981
电子陶瓷材料滑石中杂质的原子吸收分光光度测定法
-
SJ/T 10414-2015
半导体器件用焊料
-
T/CEMIA 020-2019
显示面板用N-甲基-2-吡咯烷酮
-
GB/T 29056-2012
硅外延用三氯氢硅化学分析方法 硼、铝、磷、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、钼、砷和锑量的测定 电感耦合等离子体质谱法
-
GB/T 11320-1989
压电陶瓷材料性能测试方法 低机械品质因数压电陶瓷材料性能的测试
-
SJ/T 11029-2015
电子器件用金镍纤料的分析方法 EDTA容量法测定镍
-
SJ/T 11637-2016
电子化学品 电感耦合等离子体质谱法通则
-
GB/T 9394-1998
电子工业用硅酸钾溶液
-
GB/T 11297.11-2015
热释电材料介电常数的测试方法
-
SJ/T 11507-2015
集成电路用 氧化层缓冲腐蚀液
-
GB/T 11297.10-2015
热释电材料居里温度Tc的测试方法
-
SJ/T 11028-2015
电子器件用金铜钎料的分析方法 EDTA容量法测定铜
-
GB/T 4182-1997
钼丝
-
SJ 1589-1980
铈钨杆
-
GB 11446.5-1989
电子级水中痕量金属的原子吸收分光光度测试方法
-
SJ/T 3231-2005
低熔焊接玻璃粉
-
GB/T 37946-2019
有机发光二极管显示器用材料热稳定性的测试方法
-
GB/T 40563-2021
氟化物红色荧光粉
-
SJ 677-1983
DB-402电真空玻璃主要技术数据