收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 5838.3-2015 荧光粉 第3部分:性能试验方法
Phosphors—Part 3: Test methods for properties
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
暂无
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
电子设备与专用材料、零件、结构件(L90/94)
电子技术专用材料(L90)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
-
前言:
GB/T5838《荧光粉》系列国家标准包括以下部分:
———第1部分:术语;
———第2部分:牌号;
———第3部分:性能试验方法;
———第4-1部分:黑白显示管用荧光粉;
———第4-2部分:指示管用荧光粉;
———第4-3部分:示波管和显示管用荧光粉;
———第4-4部分:彩色显像管用荧光粉;
———第4-5部分:彩色显示管用荧光粉。
本部分是 GB/T5838的第3部分。
本部分按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本部分代替 GB/T4070—1996《荧光粉性能试验方法》。
本部分与 GB/T4070—1996相比主要变化如下:
———术语和定义改为全部引用 GB/T5838(见第3章);
———修改了水溶性氯化物测定用试剂和溶液的规定(见 4.2.2、4.2.3、4.2.4,1996 年版的 4.2.2、
4.2.3、4.2.4);
———粒度分布的测定增加了激光散射法(见6.2);
———增加了温度特性的测定(见第10章);
———增加了pH 值的测定(见第11章);
———增加了电导率的测定(见第12章);
———增加了光致发光荧光粉比表面积的测定(见第15章);
———增加了阴极射线致发光荧光粉反射率的测定(见第21章);
———增加了无水乙醇密度(见附录 A)。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)归口。
本部分起草单位:彩虹集团公司、中国电子技术标准化研究院。
本部分主要起草人:张东宏、黄宁歌、裴会川、庄卫东。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB4070~4072—1983;
———GB/T4070—1996。
-
适用范围:
本部分规定了荧光粉水溶性氯化物、密度、粒度分布、相对亮度、相对光谱功率分布、色品坐标、紫外辐照稳定性、余辉相对亮度、比表面积、流明效率、余辉时间、热稳定性、湿粘着力、干粘着力、反射率、温度特性、pH值、电导率的测试方法。本部分适用于荧光粉的性能测试,其中,紫外辐照稳定性、余辉相对亮度和比表面积的测试方法仅适用于光致发光荧光粉,流明效率、余辉时间、热稳定性、湿粘着力、干粘着力、反射率的试验方法仅适用于阴极射线致发光荧光粉。
-
引用标准:
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T5838 荧光粉名词术语
相关标准
-
代替标准:
GB/T 4070-1996
-
引用标准:
GB/T 5838
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 11446.10-1997
电子级水中细菌总数的滤膜培养测试方法
-
SJ/T 10380-2012
工业用酸洗石英砂
-
GB 11446.8-1989
电子级水中总有机碳的测试方法
-
DB34/T 2829-2017
安徽省超厚电解铜箔技术条件
-
SJ 20964-2006
钨37铼合金规范
-
GB/T 12633-1990
压电晶体性能测试术语
-
GB/T 5838.2-2015
荧光粉 第2部分:牌号
-
SJ 2410-1983
DB-441电真空玻璃主要技术数据
-
GB/T 36655-2018
电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法
-
SJ/T 3328.6-2016
电子产品用高纯石英砂 第6部分 铜的测定
-
GB/T 11446.6-2013
电子级水中二氧化硅的分光光度测试方法
-
GB/T 16304-2008
压电陶瓷材料性能测试方法 电场应变特性的测试
-
JC/T 2397-2017
非制冷型红外探测器用热释电陶瓷
-
GB/T 5838.44-2015
荧光粉 第4-4部分:彩色显像管用荧光粉
-
SJ/T 3231-2005
低熔焊接玻璃粉
-
GB/T 32649-2016
光伏用高纯石英砂
-
DB13/T 5537-2022
河北省向列相热致液晶单体电阻率的测定 直流电压法
-
GB/T 18502-2001
银或银合金包套铋系氧化物超导体直流临界电流的测定
-
SJ/T 11724-2018
锂原电池用电解液
-
GB/T 4186-2002
钼钨合金杆