GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device—Part 4: Test method for permittivity and dielectric loss angle tangent value
标准号：
GB/T 5594.4-2015
名称：
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法
英文名称：
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device—Part 4: Test method for permittivity and dielectric loss angle tangent value
状态：
现行
类型：
国家标准
性质：
推荐性
发布日期：
2015-05-15
实施日期：
2016-01-01
废止日期：
暂无
相关公告：
实施公告【关于批准发布《中国地震动参数区划图》等357项国家标准的公告】
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分类信息
ICS分类：
暂无
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
电子设备与专用材料、零件、结构件（L90/94）
电子技术专用材料（L90）
】
行标分类：
暂无
前言：
GB/T 5594《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法》分为以下部分：
适用范围：
GB/T 5594的本部分规定了装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料介电常数和介质损耗角正切值的测试方法。本部分适用于装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料在频率为1 MHz ，温度从室温至500 ℃条件下的介电常数和介质损耗角正切值的测试。
引用标准：
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
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