GB/T 5594.6-2015

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分：化学稳定性测试方法

Test methods for properties of structure ceramics used in eletronic components and device—Part 6: Test method for chemical durability

现行

国家标准

推荐性

2015-05-15

2016-01-01

暂无

实施公告【关于批准发布《中国地震动参数区划图》等357项国家标准的公告】

暂无

暂无

GB/T5594《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法》分为以下部分:
———气密性测试方法(GB/T5594.1);
———杨氏弹性模量 泊松比测试方法(GB/T5594.2);
———第3部分:平均线膨胀系数测试方法(GB/T5594.3);
———第4部分:介电常数和介质损耗角正切值测试方法(GB/T5594.4);
———体积电阻率测试方法(GB/T5594.5);
———第6部分:化学稳定性测试方法(GB/T5594.6);
———第7部分:透液性测定方法(GB/T5594.7);
———第8部分:显微结构测定方法(GB/T5594.8);
———电击穿强度测试方法(GB/T5594.9)。
本部分为 GB/T5594的第6部分。
本部分按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本部分代替 GB/T5594.6—1985《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法》。
本部分与 GB/T5594.6—1985相比,主要有下列变化:
———标准名称改为:“电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分:化学稳定性测试方法”;
———在“6.1.1”中,将测试样品数量由原来的2个修改为3个,增加了“选择无气孔、无裂纹及无其他缺陷的试样”;
———在“6.1.2”中,修改了“皂片溶液”为“去污粉”;
———在“6.2.3”中,修改了“甘油溶液作为水浴锅加热溶液”为“蒸馏水作为水浴锅加热溶液”;
———在“7.1”和“7.2”中,将试样重量修改为质量,符号由G 修改为m,计算公式相应修改。
———增加了“8 测试结果及报告”。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由中国电子技术标准化研究院归口。
本部分起草单位:中国电子科技集团公司第十二研究所、北京七星飞行电子有限公司。
本部分主要起草人:何晓梅、曾桂生、何诗静。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB/T5594.6—1985。

GB/T 5594的本部分规定了电子元器件结构陶瓷中的氧化铝、氧化铍等陶瓷材料化学稳定性的测试方法。 本部分适用于电子元器件结构陶瓷中的氧化铝、氧化铍等陶瓷材料化学稳定性的测试。 本部分不适用于测定镁橄榄石、莫来石、滑石等陶瓷材料的化学稳定性。

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GB/T9530—1988 电子陶瓷名词术语

GB/T 5594.6-1985

GB/T 9530-1988

中国电子技术标准化研究院

中国电子科技集团公司第十二研究所 北京七星飞行电子有限公司

工业和信息化部（电子）