收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 5594.3-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分：平均线膨胀系数测试方法
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device—Part 3: Test method for mean coefficient of linear expansion
基本信息
-
标准号：
GB/T 5594.3-2015
-
名称：
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分：平均线膨胀系数测试方法
-
英文名称：
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device—Part 3: Test method for mean coefficient of linear expansion
-
状态：
现行
-
类型：
国家标准
-
性质：
推荐性
-
发布日期：
2015-05-15
-
实施日期：
2016-01-01
-
废止日期：
暂无
-
相关公告：
实施公告【关于批准发布《中国地震动参数区划图》等357项国家标准的公告】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类：
暂无
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
电子设备与专用材料、零件、结构件（L90/94）
电子技术专用材料（L90）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
-
前言：
GB/T5594《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法》的结构如下:
———气密性测试方法(GB/T5594.1);
———杨氏弹性模量 泊松比测试方法(GB/T5594.2);
———第3部分:平均线膨胀系数测试方法(GB/T5594.3);
———第4部分:介电常数和介质损耗角正切值测试方法(GB/T5594.4);
———体积电阻率测试方法(GB/T5594.5);
———第6部分:化学稳定性测试方法(GB/T5594.6);
———第7部分:透液性测定方法(GB/T5594.7);
———第8部分:显微结构测定方法(GB/T5594.8);
———电击穿强度测试方法(GB/T5594.9)。
本部分为 GB/T5594的第3部分。
本部分按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本部分代替 GB/T5594.3—1985《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法》。
本部分与 GB/T5594.3—1985相比,主要有下列变化:
———标准名称改为:“电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分:平均线膨胀系数测试方法”;
———4.1测试样品改为?3.5×50mm;
———4.2套管和传递杆的材料从石英玻璃变化为石英玻璃或高温氧化铝陶瓷;
———4.4测量范围从室温至800 ℃变化为室温至1200 ℃;
———4.5线膨胀系数单位改为 K-1。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利,本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由中国电子技术标准化研究院归口。
本部分起草单位:中国电子科技集团公司第十二研究所、河南济源兄弟材料有限公司、浙江温岭特种陶瓷厂。
本部分主要起草人:高陇桥、黄国立、胡菊飞。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB/T5594.3—1985。
-
适用范围：
GB/T 5594的本部分规定了陶瓷材料平均线膨胀系数测试的样品、测试设备、测试方法及报告格式。本部分适用于电子元器件结构陶瓷材料的平均线膨胀系数的测试。
-
引用标准：
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T5593—2015 电子元器件结构陶瓷材料
GB/T9530—1988 电子陶瓷名词术语
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 5594.4-2015
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法
-
GB/T 11446.10-2013
电子级水中细菌总数的滤膜培养测试方法
-
SJ/T 10753-2015
电子器件用金、银及其合金钎料
-
GB/T 36647-2018
普通单体液晶材料规范
-
GB/T 4070-1996
荧光粉性能试验方法
-
SJ/T 11510-2015
液晶显示器用 铝腐蚀液
-
SJ/T 11104-2016
金电镀层规范
-
SJ/T 11390-2009
无铅焊料试验方法
-
SJ/T 10414-2015
半导体器件用焊料
-
SJ/T 11724-2018
锂原电池用电解液
-
GB/T 3389.3-2001
压电陶瓷材料性能试验方法 居里温度TC的测试
-
GB/T 3389.1-1996
铁电压电陶瓷词汇
-
SJ/T 3328.4-2016
电子产品用高纯石英砂 第4部分 二氧化硅的测定
-
GB 11311-1989
压电陶瓷材料性能测试方法 泊松地σE的测试
-
GB/T 3389.2-1999
压电陶瓷材料性能测试方法 纵向压电应变常数d33的静态测试
-
SJ/T 11723-2018
锂离子电池用电解液
-
GB/T 28859-2012
电子元器件用环氧粉末包封料
-
GB/T 4073-1996
荧光粉牌号
-
SJ 674-1983
DM-320电真空玻璃主要技术数据
-
SJ 1857-1981
电子陶瓷材料菱美矿、方解石、白云石中杂质的原子吸收分光光度测定法
打开设置，点击
执行注册
