收藏到云盘
纠错反馈

GB/T 22319.7-2015 石英晶体元件参数的测量 第7部分：石英晶体元件活性跳变的测量

Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 7: Measurement of activity dips of quartz crystal units
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 22319.7-2015
  • 名称：
    石英晶体元件参数的测量 第7部分：石英晶体元件活性跳变的测量
  • 英文名称：
    Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 7: Measurement of activity dips of quartz crystal units
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2015-06-02
  • 实施日期：
    2016-02-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    实施公告【关于批准发布《钢琴》等96项国家标准的公告】
分类信息
描述信息
  • 前言：
    GB/T22319《石英晶体元件参数的测量》分为如下几部分:
    ———第1部分:用π型网络零相位法测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻的基本方法;
    ———第2部分:测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法;
    ———第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率和负载谐振电阻RL 的测量方法及其
    他导出参数的计算;
    ———第5部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法;
    ———第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量;
    ———第7部分:石英晶体元件活性跳变的测量;
    ———第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具;
    ———第9部分:石英晶体元件寄生谐振的测量。
    本部分为 GB/T22319的第7部分。
    本部分按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。
    本部分使用翻译法等同采用IEC60444-7:2004《石英晶体元件参数的测量 第7部分:石英晶体元件活性跳变和频率跳变的测量》。
    本部分作了下列编辑性修改:
    ———将表1中脚注“*”改为脚注“a”;
    ———将3.3中评估公式序号(A)~(D)分别改为a)~d);
    ———删除评估公式a)前面的“频率跳变”和公式c)前面的“活性跳变”。
    请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
    本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
    本部分由全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC182)归口。
    本部分起草单位:中国电子元件行业协会压电晶体分会、南京中电熊猫晶体科技有限公司、唐山晶源裕丰电子股份有限公司、郑州原创电子科技有限公司。
    本部分主要起草人:章怡、梁生元、胡志雄、邹飞。
  • 适用范围：
    GB/T 22319的本部分规定了在温度范围内石英晶体元件活性跳变的测量方法。
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 采用标准：
    IEC 60444-7:2004 石英晶体元件参数的测量 第7部分：石英晶体元件活性跳变和频率跳变的测量 （等同采用 IDT）
相关部门
  • 起草单位：
    中国电子元件行业协会压电晶体分会 南京中电熊猫晶体科技有限公司 唐山晶源裕丰电子股份有限公司 郑州原创电子科技有限公司
  • 归口单位：
    全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC 182)
  • 主管部门：
    工业和信息化部（电子）
相关人员
暂无
关联标准