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GB/T 22319.7-2015 石英晶体元件参数的测量 第7部分：石英晶体元件活性跳变的测量
Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 7: Measurement of activity dips of quartz crystal units
基本信息
-
标准号：
GB/T 22319.7-2015
-
名称：
石英晶体元件参数的测量 第7部分：石英晶体元件活性跳变的测量
-
英文名称：
Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 7: Measurement of activity dips of quartz crystal units
-
状态：
现行
-
类型：
国家标准
-
性质：
推荐性
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发布日期：
2015-06-02
-
实施日期：
2016-02-01
-
废止日期：
暂无
-
相关公告：
实施公告【关于批准发布《钢琴》等96项国家标准的公告】
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分类信息
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ICS分类：
【
电子学（31）
频率控制和选择用压电器件与介质器件（31.140）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
电子元件（L10/34）
石英晶体、压电元件（L21）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
-
前言：
GB/T22319《石英晶体元件参数的测量》分为如下几部分:
———第1部分:用π型网络零相位法测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻的基本方法;
———第2部分:测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法;
———第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率和负载谐振电阻RL 的测量方法及其
他导出参数的计算;
———第5部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法;
———第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量;
———第7部分:石英晶体元件活性跳变的测量;
———第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具;
———第9部分:石英晶体元件寄生谐振的测量。
本部分为 GB/T22319的第7部分。
本部分按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本部分使用翻译法等同采用IEC60444-7:2004《石英晶体元件参数的测量 第7部分:石英晶体元件活性跳变和频率跳变的测量》。
本部分作了下列编辑性修改:
———将表1中脚注“*”改为脚注“a”;
———将3.3中评估公式序号(A)~(D)分别改为a)~d);
———删除评估公式a)前面的“频率跳变”和公式c)前面的“活性跳变”。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC182)归口。
本部分起草单位:中国电子元件行业协会压电晶体分会、南京中电熊猫晶体科技有限公司、唐山晶源裕丰电子股份有限公司、郑州原创电子科技有限公司。
本部分主要起草人:章怡、梁生元、胡志雄、邹飞。
-
适用范围：
GB/T 22319的本部分规定了在温度范围内石英晶体元件活性跳变的测量方法。
-
引用标准：
暂无
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