收藏到云盘
纠错反馈
SJ/T 2658.11-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第11部分:响应时间
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
半导体分立器件(31.080)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
光电子器件(L50/54)
半导体发光器件(L53)
】
-
行标分类:
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
SJ/T 2406-2018
微波电路型号命名方法
-
SJ/T 2960.2-2013
电子元器件质量评定体系规范 压电陶瓷陷波器 第2部分:分规范 鉴定批准
-
SJ/T 10679-1995
电子设备用固定电容第12部分:分规范: 金属箔式舒碳酸脂介质直流固定电容器评定水平
-
SJ/T 11457.4.1-2013
波导型介电谐振器 第4-1部分:空白详细规范
-
SJ/T 10725-2013
电声学 测量电容传声器电声性能的测量方法
-
SJ/T 11461.3-2016
有机发光二极管显示器件 第3部分:显示屏分规范
-
SJ/T 3273-2013
高压元件和组件的安全要求
-
SJ/T 11650-2016
信息技术 办公设备 电子设备中化学品散发率的确定
-
SJ/T 10345.3-1993
寿命试验用表最好线性无偏估计用表(正态分布)
-
SJ/T 10466.16-1994
纠正措施指南
-
SJ/T 2214-2015
半导体光电二极管和光电晶体管测试方法
-
SJ/T 10080-1991
半导体集成电路CT5442/CT7442型4线--10线译码器(BCD输入)
-
SJ/T 207.4-2018
设计文件管理制度 第4部分:设计文件的编号
-
SJ/T 10541-1994
抗干扰型交流稳压电源通用技术条件
-
SJ/T 10087.2-1991
彩色显象管玻璃主要原材料的化学分析方法 白云石的化学分析方法
-
SJ/T 11326-2016
数字电视接收及显示设备环境试验方法
-
SJ/T 11503-2015
碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法
-
SJ/T 10466.1-1993
质量体系建立导则
-
GB/T 7581-1987
半导体分立器件外形尺寸
-
SJ/T 10704-1996
内藏式卫星电视广播接收机基本参数和测量方法