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SJ/T 2658.9-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第9部分：辐射强度空间分布和半强度角

基本信息
  • 标准号：
    SJ/T 2658.9-2015
  • 名称：
    半导体红外发射二极管测量方法 第9部分：辐射强度空间分布和半强度角
  • 英文名称：
    暂无
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    行业标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2015-10-10
  • 实施日期：
    2016-04-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    实施公告【2015年第12号(总第192号)】
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分类信息
  • ICS分类：
    【 电子学（31） 半导体分立器件（31.080） 】
  • CCS分类：
    【 电子元器件与信息技术（L） 光电子器件（L50/54） 半导体发光器件（L53） 】
  • 行标分类：
    【 电子（SJ） 】
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    规定了半导体红外发射二极管辐射强度空间分布和半强度角的测量原理图、测量步骤以及规定条件。
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
  • 起草单位：
    工业和信息化部电子工业标准化研究院
相关人员
暂无
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