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SJ/T 2658.8-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第8部分:辐射强度
基本信息
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标准号:
SJ/T 2658.8-2015
-
名称:
半导体红外发射二极管测量方法 第8部分:辐射强度
-
英文名称:
暂无
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状态:
现行
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类型:
行业标准
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性质:
推荐性
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发布日期:
2015-10-10
-
实施日期:
2016-04-01
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废止日期:
暂无
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相关公告:
实施公告【2015年第12号(总第192号)】
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