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SJ/T 2658.8-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第8部分：辐射强度
基本信息
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标准号：
SJ/T 2658.8-2015
-
名称：
半导体红外发射二极管测量方法 第8部分：辐射强度
-
英文名称：
暂无
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状态：
现行
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类型：
行业标准
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性质：
推荐性
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发布日期：
2015-10-10
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实施日期：
2016-04-01
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废止日期：
暂无
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相关公告：
实施公告【2015年第12号(总第192号)】
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电子学（31）
半导体分立器件（31.080）
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【
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光电子器件（L50/54）
半导体发光器件（L53）
】
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