收藏到云盘
纠错反馈
SJ/T 2658.5-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第5部分：串联电阻
基本信息
-
标准号：
SJ/T 2658.5-2015
-
名称：
半导体红外发射二极管测量方法 第5部分：串联电阻
-
英文名称：
暂无
-
状态：
现行
-
类型：
行业标准
-
性质：
推荐性
-
发布日期：
2015-10-10
-
实施日期：
2016-04-01
-
废止日期：
暂无
-
相关公告：
实施公告【2015年第12号(总第192号)】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
半导体分立器件（31.080）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
光电子器件（L50/54）
半导体发光器件（L53）
】
-
行标分类：
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
SJ/T 11553-2015
93%氧化铝真空电子用陶瓷
-
SJ/T 10345.5-1993
寿命试验用表r(1+1/m)数值表
-
DB35/T 1193-2011
福建省半导体发光二极管芯片
-
SJ/T 11117-1997
音频、视频及视听系统设备用图形符号
-
SJ/T 10691-1996
变频变压电源通用规范
-
SJ/T 11667-2017
电真空器件氢气炉能源消耗规范
-
SJ/T 11626-2016
超级电容器用充电器通用规范
-
SJ 2686-1986
圆形黄色半导体发光二极管
-
SJ/T 10086-1991
半导体集成电路CT54H183/CT74H183型双进位保留全加器
-
SJ/T 10116-1991
ZPC软磁盘驱动器技术条件
-
SJ/T 10589-1994
DG-502型电子玻璃技术数据
-
SJ/T 10118-1991
HXP-4键盘技术条件
-
SJ/T 3328.6-2016
电子产品用高纯石英砂 第6部分 铜的测定
-
SJ/T 10625-1995
锗单晶中间隙氧含量的红外吸收测量方法
-
SJ/T 11526-2015
信息技术 SCSI基于对象的存储设备命令
-
SJ/T 10472-1994
函数信号发生器技术条件
-
SJ/T 10678-1995
电子工业用氧化铋粉
-
SJ/T 10655-1995
短波单边带通信设备检验规则
-
SJ/T 10126-1991
12ZD-16型明线电缆12路载波电话终端技术条件
-
SJ/T 10227-1991
电子工业用硅酸钾溶液粘度的测定方法
打开设置，点击
执行注册
