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SJ/T 2658.4-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第4部分:总电容
基本信息
- 标准号:SJ/T 2658.4-2015
- 名称:半导体红外发射二极管测量方法 第4部分:总电容
- 英文名称:暂无
- 状态:现行
- 类型:行业标准
- 性质:推荐性
- 发布日期:2015-10-10
- 实施日期:2016-04-01
- 废止日期:暂无
- 相关公告:
分类信息
- ICS分类:【 】
- CCS分类:【 】
- 行标分类:【 】
描述信息
- 前言:暂无
- 适用范围:规定了半导体红外发射二极管总电容的测量原理图、测量步骤以及规定条件。
- 引用标准:暂无
相关标准
暂无
相关部门
- 起草单位:工业和信息化部电子工业标准化研究院
相关人员
暂无
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