收藏到云盘
纠错反馈
SJ/T 2658.1-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第1部分:总则
基本信息
-
标准号:
SJ/T 2658.1-2015
-
名称:
半导体红外发射二极管测量方法 第1部分:总则
-
英文名称:
暂无
-
状态:
现行
-
类型:
行业标准
-
性质:
推荐性
-
发布日期:
2015-10-10
-
实施日期:
2016-04-01
-
废止日期:
暂无
-
相关公告:
实施公告【2015年第12号(总第192号)】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
半导体分立器件(31.080)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
光电子器件(L50/54)
半导体发光器件(L53)
】
-
行标分类:
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
SJ/T 10535-1994
半导体器件用钨舟
-
SJ/T 11362-2006
企业信息化技术规范制造执行系统(MES)规范
-
SJ/T 11445.2-2012
信息技术服务 外包 第2部分:数据(信息)保护规范
-
SJ/T 10317-1992
负荷开关用真空开关管空白详细规范
-
SJ/T 10458-1993
俄歇电子能谱术语和X射线光电子谱术语的样品处理标准导则
-
SJ/T 10264-1991
半导体集成电路CD3161CS双前置放大器详细规范
-
SJ/T 2658.11-2015
半导体红外发射二极管测量方法 第11部分:响应时间
-
SJ/T 10578-1994
断路器用陶瓷真空开关管空白详细规范
-
SJ/T 11622-2016
信息技术 软件资产管理 实施指南
-
SJ/T 10171.9-1991
碱性蓄电池隔膜性能测试方法 隔膜透气度的测定 (中等范围) 肖伯尔法
-
SJ/T 10753-2015
电子器件用金、银及其合金钎料
-
SJ/T 10183-1991
波导和同轴元件衰减测量方法
-
SJ/T 10728-1996
低压断路器用陶瓷真空开关管空白详细规范
-
SJ/T 10263-1991
半导体集成电路CD7666GP双五点LED电平显示驱动器详细规范
-
SJ/T 10605-1994
视频抖动测量仪通用技术条件
-
SJ/T 11432-2012
直流稳定电源通用规范
-
GB/T 18910.101-2021
液晶显示器件 第10-1部分:环境、耐久性和机械试验方法 机械
-
SJ/T 11459.2.2.4-2013
液晶显示器件 第2-2-4部分:手机用彩色矩阵液晶显示模块详细规范
-
SJ/T 31028-2016
数控电火花成型机完好要求和检查评定方法
-
SJ/T 10702-1996
数字微波接力线路测量方法