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SJ/T 2658.1-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第1部分:总则

基本信息
  • 标准号:
    SJ/T 2658.1-2015
  • 名称:
    半导体红外发射二极管测量方法 第1部分:总则
  • 英文名称:
    暂无
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    行业标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2015-10-10
  • 实施日期:
    2016-04-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    实施公告【2015年第12号(总第192号)】
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分类信息
  • ICS分类:
    电子学(31) 半导体分立器件(31.080)
  • CCS分类:
    电子元器件与信息技术(L) 光电子器件(L50/54) 半导体发光器件(L53)
  • 行标分类:
    电子(SJ)
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    规定了对半导体红外发射二极管进行光电参数测量的一般要求,包括测试仪表的误差范围、电源的性能要求以及测试环境条件。
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
  • 起草单位:
    工业和信息化部电子工业标准化研究院
相关人员
暂无
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