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SJ/T 2658.1-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第1部分：总则

基本信息
  • 标准号：
    SJ/T 2658.1-2015
  • 名称：
    半导体红外发射二极管测量方法 第1部分：总则
  • 英文名称：
    暂无
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    行业标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2015-10-10
  • 实施日期：
    2016-04-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    实施公告【2015年第12号(总第192号)】
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    规定了对半导体红外发射二极管进行光电参数测量的一般要求，包括测试仪表的误差范围、电源的性能要求以及测试环境条件。
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
  • 起草单位：
    工业和信息化部电子工业标准化研究院
相关人员
暂无
关联标准