• 当前位置：
    首页 规范标准 SJ/T 11552-2015 以布鲁斯特角入设P偏振辐射红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
收藏到云盘
纠错反馈

SJ/T 11552-2015 以布鲁斯特角入设P偏振辐射红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量

基本信息
  • 标准号：
    SJ/T 11552-2015
  • 名称：
    以布鲁斯特角入设P偏振辐射红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
  • 英文名称：
    暂无
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    行业标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2015-10-10
  • 实施日期：
    2016-04-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    实施公告【2015年第12号(总第192号)】
    • 阅读或下载 使用APP、PC客户端等功能更强大
    • 网页在线阅读 体验阅读、搜索等基本功能
    • 用户分享资源 来自网友们上传分享的文件
    • 纸书购买 平台官方及网友推荐
分类信息
  • ICS分类：
    【 电气工程（29） 半导体材料（29.045） 】
  • CCS分类：
    【 冶金（H） 半金属与半导体材料（H80/84） 元素半导体材料（H82） 】
  • 行标分类：
    【 电子（SJ） 】
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    本标准规定了以布鲁斯特角入射P偏振辐射红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量的方法。
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
  • 起草单位：
    工业和信息化部电子工业标准化研究院 信息产业专用材料质量监督检验中心 苏州晶瑞化学有限公司等
相关人员
暂无
关联标准
  • SJ/T 11126-1997 电子元件用酚醛系包封材料
  • SJ/T 10295-1991 船用导航雷达发射机频率特性测试方法
  • SJ/T 11400-2009 半导体光电子器件 小功率半导体发光二极管空白详细规范
  • GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法
  • SJ/T 10171.4-1991 碱性蓄电池隔膜性能测试方法 隔膜抗张强度的测定
  • SJ/T 11018-2016 电子器件用纯银钎料的分析方法 燃烧碘量法测定硫
  • SJ/T 10727-1996 低压断路器用玻璃真空开关管空白详细规范
  • SJ/T 11581-2016 LED模块加速寿命试验方法
  • SJ/T 10518-1994 塑料注射模模架技术条件
  • T/IAWBS 003-2017 碳化硅外延层载流子浓度测定　汞探针电容-电压法
  • SJ/T 10519.12-1994 塑料注射模零件 台阶顶杆
  • SJ/T 10674-1995 涂料涂 通用技术条件
  • SJ/T 11528-2015 信息技术 移动存储 存储卡通用规范
  • SJ/T 11247-2001 永磁铁氧体瓦形磁体公差及外形缺陷
  • SJ/T 10372-1993 车用高保真系统最低性能要求
  • SJ/T 10434-1993 电子设备用电阻式湿敏元件 空白详细规范
  • SJ/T 3328.2-2016 电子产品用高纯石英砂 第2部分 分析方法通则
  • SJ/T 11668-2017 电真空器件真空炉能源消耗规范
  • SJ/T 11655-2016 信息技术 移动存储 移动硬盘通用规范
  • SJ/T 10671-1995 精密丝网印刷机通用规范
用户分享资源

SJ/T 11552-2015 以布鲁斯特角入设P偏振辐射红外吸收光谱法测量硅中...

 上传文件 注:本列表内文件主要来源于网友们的分享上传。如您发现有不正确不合适的内容，请及时联系客服
纠错反馈
SJ/T 11552-2015 以布鲁斯特角入设P偏振辐射红外吸收光谱法测量硅中...
提交反馈
分类列表
确定
上传文件
完全匿名 前台匿名 显示用户名 点击选择文件
{{uploadFile.name}} {{uploadFile.sizeStr}}
目前支持上传小于100MB的PDF、OCF、OCS格式文件
注:您上传文件即代表同意平台可以公开给所有用户下载。平台会根据您的选择及实际情况，为您发放相应的直接或分成奖励。平台也可以根据实际情况需要，对您上传到服务器的文件进行调整隐藏删除等，而无需通知到您。
联系客服

纸书购买链接招商中，联系客服入驻

客服QQ： 2449276725 1455033258

1098903864 1969329120

客服电话：0379-80883238

电子邮箱：ocsyun@126.com