收藏到云盘
纠错反馈

SJ/T 31128-2016 近红外厚膜烧结炉完好要求和检查评定方法

基本信息
  • 标准号:
    SJ/T 31128-2016
  • 名称:
    近红外厚膜烧结炉完好要求和检查评定方法
  • 英文名称:
    暂无
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    行业标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2016-01-15
  • 实施日期:
    2016-06-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    实施公告【2016年第7号(总第199号)】
    • 阅读或下载 使用APP、PC客户端等功能更强大
    • 网页在线阅读 体验阅读、搜索等基本功能
    • 用户分享资源 来自网友们上传分享的文件
    • 纸书购买 平台官方及网友推荐
分类信息
  • ICS分类:
    电子学(31) 电子产品生产设备(31.550)
  • CCS分类:
    电子元器件与信息技术(L) 电子元器件与信息技术综合(L00/09) 技术管理(L01)
  • 行标分类:
    电子(SJ)
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    规定了近红外厚膜烧结炉完好要求和检查评定方法
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
  • 起草单位:
    中国电子科技集团公司第十三研究所 中国电子科技集团公司第五十四研究所 中国电子节能技术协会 中国电子节能技术协会
相关人员
暂无
关联标准
  • SJ/T 10186-1991 Y73型系列温度变化试验箱一一二箱式
  • SJ/T 11606-2016 射频识别标签信息查询服务的网络架构技术规范
  • SJ 207.3-1982 设计文件的管理制度 设计文件的格式
  • SJ/T 11460.3.3-2016 液晶显示用背光组件 第3-3部分:电视接收机用LED背光组件空白详细规范
  • SJ/T 3231-2005 低熔焊接玻璃粉
  • SJ/T 10080-1991 半导体集成电路CT5442/CT7442型4线--10线译码器(BCD输入)
  • SJ/T 11028-2015 电子器件用金铜钎料的分析方法 EDTA容量法测定铜
  • SJ/T 11552-2015 以布鲁斯特角入设P偏振辐射红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
  • SJ/T 11397-2009 半导体发光二极管用萤光粉
  • SJ/T 11002-2018 电子元器件详细规范 CBB111型金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器 评定水平E
  • SJ/T 11223-2000 铜包铝线
  • SJ/T 11497-2015 砷化镓晶片热稳定性的试验方法
  • SJ/T 10458-1993 俄歇电子能谱术语和X射线光电子谱术语的样品处理标准导则
  • SJ/T 11623-2016 信息技术服务 从业人员能力规范
  • SJ/T 10557.4-1994 电解电容器用铝箔化学分析方法 原子吸收分光光度法测定铜、铁、锌、锰和镁量
  • SJ/T 11642-2016 直播卫星电视广播接收用平板天线通用规范
  • SJ/T 11462.3.1-2016 电子设备用编码器 第3-1部分:空白详细规范 绝对型旋转编码器 评定水平EZ
  • SJ/T 3273-2013 高压元件和组件的安全要求
  • SJ/T 11461.2-2016 有机发光二极管显示器件 第2部分:基本额定值和特性
  • SJ/T 11627-2016 太阳能电池用硅片电阻率在线测试方法
用户分享资源

SJ/T 31128-2016 近红外厚膜烧结炉完好要求和检查评定方法

上传文件
注:本列表内文件主要来源于网友们的分享上传。如您发现有不正确不合适的内容,请及时联系客服
纠错反馈
SJ/T 31128-2016 近红外厚膜烧结炉完好要求和检查评定方法
提交反馈
分类列表
确定
上传文件
完全匿名 前台匿名 显示用户名 点击选择文件
{{uploadFile.name}} {{uploadFile.sizeStr}}
目前支持上传小于100MB的PDF、OCF、OCS格式文件
注:您上传文件即代表同意平台可以公开给所有用户下载。平台会根据您的选择及实际情况,为您发放相应的直接或分成奖励。平台也可以根据实际情况需要,对您上传到服务器的文件进行调整隐藏删除等,而无需通知到您。
联系客服

纸书购买链接招商中,联系客服入驻

客服QQ: 2449276725 1455033258

1098903864 1969329120

客服电话:0379-80883238

电子邮箱:ocsyun@126.com