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纠错反馈
YS/T 23-2016 硅外延层厚度测定 堆垛层错尺寸法
Test method for thickness of epitaxial layers—Stacking fault size
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
冶金（77）
金属材料试验（77.040）
】
-
CCS分类：
【
冶金（H）
金属理化性能试验方法（H20/29）
金属物理性能试验方法（H21）
】
-
行标分类：
描述信息
相关标准
-
代替标准：
YS/T 23-1992
-
引用标准：
GB/T 14264
GB/T 14847
相关部门
相关人员
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