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YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法

Silicon powder-quantitative phase analysis—Determination of silicon dioxide content—Value K method of X-ray diffraction
基本信息
  • 标准号：
    YS/T 1160-2016
  • 名称：
    工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法
  • 英文名称：
    Silicon powder-quantitative phase analysis—Determination of silicon dioxide content—Value K method of X-ray diffraction
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    行业标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2016-07-11
  • 实施日期：
    2017-01-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    实施公告【2016年第11号(总第203号)】
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分类信息
  • ICS分类：
    【 电气工程（29） 半导体材料（29.045） 】
  • CCS分类：
    【 冶金（H） 金属化学分析方法（H10/19） 轻金属及其合金分析方法（H12） 】
  • 行标分类：
    【 有色冶金（YS） 】
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    本标准规定了工业硅粉中二氧化硅含量的测定方法。
    本标准适用于工业硅粉中二氧化硅含量的测定，测定范围为≥1%。
  • 引用标准：
    暂无
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  • 引用标准：
    GB/T 8170
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暂无
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暂无
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