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YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法
Silicon powder-quantitative phase analysis—Determination of silicon dioxide content—Value K method of X-ray diffraction
基本信息
分类信息
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ICS分类：
【
电气工程（29）
半导体材料（29.045）
】
-
CCS分类：
【
冶金（H）
金属化学分析方法（H10/19）
轻金属及其合金分析方法（H12）
】
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行标分类：
描述信息
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