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GB/Z 32490-2016 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序

Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Procedures for determining backgrounds
基本信息
  • 标准号：
    GB/Z 32490-2016
  • 名称：
    表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序
  • 英文名称：
    Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Procedures for determining backgrounds
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    指导性技术文件
  • 发布日期：
    2016-02-24
  • 实施日期：
    2017-01-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    实施公告【关于批准发布《紧固件 外螺纹零件末端》等279项国家】
分类信息
描述信息
  • 前言：
    本指导性技术文件按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
    本指导性技术文件使用翻译法等同使用ISO/TR 18932：2005《表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序》。
    本指导性技术文件由全国微束分析标准化技术委员会（SAC/TC 38）提出并归口。
    本指导性技术文件负责起草单位：清华大学、中山大学。
    本指导性技术文件主要起草人：李展平、陈建、姚文清、谢方艳、曹立礼、朱永法。
  • 适用范围：
    本指导性技术文件给出了确定X射线光电子能谱中本底的指南。本指导性技术文件适用于固体表面X射线激发的光电子和俄歇电子能谱的本底确定。
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 采用标准：
    ISO/TR 18932:2005 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序 （等同采用 IDT）
相关部门
  • 起草单位：
    清华大学 中山大学
  • 归口单位：
    全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
  • 主管部门：
    全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
相关人员
暂无
关联标准