收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 32279-2015 硅片订货单格式输入规范
Specification for order entry format of silicon wafers
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电气工程(29)
半导体材料(29.045)
】
-
CCS分类:
【
冶金(H)
半金属与半导体材料(H80/84)
半金属与半导体材料综合(H80)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 16596-1996
确定晶片坐标系规范
-
GB/T 29055-2019
太阳能电池用多晶硅片
-
SJ/T 11495-2015
硅中间隙氧的转换因子指南
-
GB/T 35310-2017
200mm硅外延片
-
SJ/T 11552-2015
以布鲁斯特角入设P偏振辐射红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
-
YS/T 543-2006
半导体键合铝-1%硅细丝
-
GB/T 11072-2009
锑化铟多晶、单晶及切割片
-
SJ/T 11490-2015
低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法
-
GB/T 20230-2006
磷化铟单晶
-
GB/T 30854-2014
LED发光用氮化镓基外延片
-
GB/T 24580-2009
重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法
-
GB/T 32651-2016
采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法
-
GB/T 1558-1997
硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法
-
SJ/T 11500-2015
碳化硅单晶晶向的测试方法
-
SJ/T 11501-2015
碳化硅单晶晶型的测试方法
-
GB/T 35305-2017
太阳能电池用砷化镓单晶抛光片
-
YS/T 43-1992
高纯砷
-
GB/T 12963-2009
硅多晶
-
GB/T 4061-2009
硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法
-
GB/T 30861-2014
太阳能电池用锗衬底片