收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 32279-2015 硅片订货单格式输入规范
Specification for order entry format of silicon wafers
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电气工程(29)
半导体材料(29.045)
】
-
CCS分类:
【
冶金(H)
半金属与半导体材料(H80/84)
半金属与半导体材料综合(H80)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 6621-2009
硅片表面平整度测试方法
-
GB/T 13388-2009
硅片参考面结晶学取向X射线测试方法
-
GB/T 12965-2005
硅单晶切割片和研磨片
-
GB/T 31474-2015
电子装联高质量内部互连用助焊剂
-
GB/T 4058-2009
硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法
-
GB/T 14146-2009
硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法
-
GB/T 36706-2018
磷化铟多晶
-
GB/T 12964-2003
硅单晶抛光片
-
GB/T 11094-2007
水平法砷化镓单晶及切割片
-
GB/T 2881-2008
工业硅
-
GB/T 30867-2014
碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法
-
SJ/T 11494-2015
硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法
-
YS/T 15-1991
硅外延层和扩散层厚度测定磨角染色法
-
GB/T 1554-2009
硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
-
YS/T 724-2009
硅粉
-
SJ/T 11552-2015
以布鲁斯特角入设P偏振辐射红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
-
GB/T 29508-2013
300mm 硅单晶切割片和磨削片
-
GB/T 12964-2018
硅单晶抛光片
-
GB/T 29055-2019
太阳能电池用多晶硅片
-
YS/T 1167-2016
硅单晶腐蚀片