收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 32279-2015 硅片订货单格式输入规范
Specification for order entry format of silicon wafers基本信息
- 标准号:GB/T 32279-2015
- 名称:硅片订货单格式输入规范
- 英文名称:Specification for order entry format of silicon wafers
- 状态:现行
- 类型:国家标准
- 性质:推荐性
- 发布日期:2015-12-10
- 实施日期:2017-01-01
- 废止日期:暂无
- 相关公告:
分类信息
- ICS分类:【 】
- CCS分类:【 】
- 行标分类:暂无
描述信息
- 前言:暂无
- 适用范围:本标准规定了硅片订货单的格式要求和使用。本标准适用于硅单晶研磨片、硅单晶抛光片、硅单晶外延片、太阳能电池用硅单晶切割片、太阳能电池用多晶硅片的订货单格式,其他半导体材料的订货单可参照本标准执行。
- 引用标准:暂无
相关标准
暂无
相关部门
- 归口单位:2) 全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203) 203/SC 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会(SAC/TC
- 起草单位:中国有色金属工业标准计量质量研究所 南京国盛电子有限公司 浙江金瑞泓科技股份有限公司 江苏协鑫硅材料科技发展有限公司 浙江省硅材料质量检验中心 有研新材料股份有限公司 杭州海纳半导体有限公司 万向硅峰电子股份有限公司
- 主管部门:国家标准化管理委员会
相关人员
暂无
关联标准
- YS/T 1167-2016 硅单晶腐蚀片
- YS/T 724-2009 硅粉
- GB/T 6624-2009 硅抛光片表面质量目测检验方法
- GB/T 13389-2014 掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程
- GB/T 2881-2014e 工业硅
- YS/T 792-2012 单晶炉用碳/碳复合材料坩埚
- GB/T 31476-2015 电子装联高质量内部互连用焊料
- GB/T 25074-2010 太阳能级多晶硅
- DB35/T 1146-2011 福建省硅材料中杂质元素含量测定 辉光放电质谱法
- GB/T 16595-1996 晶片通用网格规范
- GB/T 25074-2017e 太阳能级多晶硅
- GB/T 41325-2022 集成电路用低密度晶体原生凹坑硅单晶抛光片
- GB/T 20229-2006 磷化镓单晶
- GB/T 35305-2017 太阳能电池用砷化镓单晶抛光片
- SJ 20866-2003 交叉辗压钼铼合金片规范
- YS/T 979-2014 高纯三氧化二镓
- GB/T 12962-2005 硅单晶
- GB/T 26071-2010 太阳能电池用硅单晶切割片
- GB/T 29506-2013 300mm 硅单晶抛光片
- GB/T 17169-1997 硅抛光片和外延片表面质量光反射测试方法