收藏到云盘
纠错反馈

GB/T 24578-2015 硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法

Test method for measuring surface metal contamination on silicon wafers by total reflection X-Ray fluorescence spectroscopy
基本信息
  • 标准号:
    GB/T 24578-2015
  • 名称:
    硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法
  • 英文名称:
    Test method for measuring surface metal contamination on silicon wafers by total reflection X-Ray fluorescence spectroscopy
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    国家标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2015-12-10
  • 实施日期:
    2017-01-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    实施公告【关于批准发布《内六角平圆头螺钉》等296项国家标准的公告】
    • 阅读或下载 使用APP、PC客户端等功能更强大
    • 网页在线阅读 体验阅读、搜索等基本功能
    • 用户分享资源 来自网友们上传分享的文件
    • 纸书购买 平台官方及网友推荐
分类信息
  • ICS分类:
    冶金(77) 金属材料试验(77.040)
  • CCS分类:
    冶金(H) 金属化学分析方法(H10/19) 半金属及半导体材料分析方法(H17)
  • 行标分类:
    暂无
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    暂无
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
  • 代替标准:
    GB/T 24578-2009
  • 引用标准:
    GB/T 14264 GB 50073-2013
相关部门
  • 归口单位:
    2) 全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203) 203/SC 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会(SAC/TC
  • 主管部门:
    国家标准化管理委员会
  • 起草单位:
    浙江省硅材料质量检验中心 有研新材料股份有限公司 万向硅峰电子股份有限公司
相关人员
暂无
关联标准
  • SN/T 2047-2008 进口铜精矿中杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
  • GB/T 351-1995 金属材料电阻系数测量方法
  • GB/T 4373.3-1984 砷化学分析方法 硫酸钡重量法测定硫量
  • YS/T 227.4-1994 碲中铁量的测定(邻菲啰啉吸光光度法)
  • YB/T 130-1997 钢的等温转变曲线图的测定
  • YS/T 226.7-2009 硒化学分析方法 第7部分:镁量的测定 火焰原子吸收光谱法
  • SN/T 1650-2005 金属硅中铁、铝、钙、镁、锰、锌、铜、钛、铬、镍、钒含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
  • YB/T 5315-2006 硅钙合金化学分析方法 磷钼蓝分光光度法测定磷量
  • YB/T 169-2000 高碳钢盘条索氏体含量金相检测方法
  • DB53/T 728-2015 云南省锌物料中铟含量的测定 原子吸收分光光度法
  • YS/T 1290-2018 多晶硅生产尾气中硅烷含量的测定 气相色谱法
  • GB/T 5167-1985 烧结金属材料和硬质合金电阻率的测定
  • GB/T 4373.1-1984 砷化学分析方法 溴酸钾容量法测定砷量
  • SN/T 2091-2008 进出口锑锭中铅、铜、铁、铋含量的测定 原子吸收光谱法
  • GB/T 3849-1983 硬质合金洛氏硬度 (A标尺) 试验方法
  • GB/T 4700.5-1998 硅钙合金化学分析方法 红外线吸收法测定碳量
  • YS/T 37.1-2018 高纯二氧化锗化学分析方法 硝酸银比浊法测定氯量
  • GB/T 4060-2007 硅多晶真空区熔基硼检验方法
  • GB/T 14849.1-2020 工业硅化学分析方法 第1部分:铁含量的测定
  • GB/T 40279-2021 硅片表面薄膜厚度的测试 光学反射法
用户分享资源

GB/T 24578-2015 硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法

Test method for measuring surface metal ...
上传文件
注:本列表内文件主要来源于网友们的分享上传。如您发现有不正确不合适的内容,请及时联系客服
纠错反馈
GB/T 24578-2015 硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法
提交反馈
分类列表
确定
上传文件
完全匿名 前台匿名 显示用户名 点击选择文件
{{uploadFile.name}} {{uploadFile.sizeStr}}
目前支持上传小于100MB的PDF、OCF、OCS格式文件
注:您上传文件即代表同意平台可以公开给所有用户下载。平台会根据您的选择及实际情况,为您发放相应的直接或分成奖励。平台也可以根据实际情况需要,对您上传到服务器的文件进行调整隐藏删除等,而无需通知到您。
联系客服

纸书购买链接招商中,联系客服入驻

客服QQ: 2449276725 1455033258

1098903864 1969329120

客服电话:0379-80883238

电子邮箱:ocsyun@126.com