• 当前位置：
    首页 规范标准 GB/T 33236-2016 多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法
收藏到云盘
纠错反馈

GB/T 33236-2016 多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法

Polycrystalline silicon—Determination of trace elements—Glow discharge mass spectrometry method
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 33236-2016
  • 名称：
    多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法
  • 英文名称：
    Polycrystalline silicon—Determination of trace elements—Glow discharge mass spectrometry method
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2016-12-13
  • 实施日期：
    2017-11-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    实施公告【关于批准发布《新型智慧城市评价指标》等292项国家标准和23项国家标准外文版公告】
    • 阅读或下载 使用APP、PC客户端等功能更强大
    • 网页在线阅读 体验阅读、搜索等基本功能
    • 用户分享资源 来自网友们上传分享的文件
    • 纸书购买 平台官方及网友推荐
分类信息
  • ICS分类：
    【 化工技术（71） 分析化学（71.040） 化学分析（71.040.40） 】
  • CCS分类：
    【 化工（G） 化工综合（G00/09） 基础标准与通用方法（G04） 】
  • 行标分类：
    暂无
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    本标准规定了采用辉光放电质谱(GDMS)法测量多晶硅中杂质元素的测试方法。本标准适用于多晶硅材料中除氢和惰性气体元素以外的其他杂质元素含量的测定，测量范围是本方法的检出限至0.1%（质量分数)，检出限根据所用仪器及测量条件确定。通过合适的标准样品校正，也可以测量质量分数大于0.1%的杂质元素含量。单晶硅材料中痕量杂质元素也可参照本标准测量。
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 引用标准：
    GB/T 6682 ISO/TS 15338:2009
相关部门
  • 起草单位：
    中国科学院上海硅酸盐研究所
  • 主管部门：
    国家标准化管理委员会
  • 归口单位：
    全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
相关人员
暂无
关联标准
  • DB37/T 342-2003 山东省硫酸软骨素含量的检测方法
  • HG/T 4541-2013 水处理剂 阻垢性能的测定 极限碳酸盐法
  • DB43/T 751-2013 湖南省石墨中氮的测定 半微量开氏法
  • GB/T 14424-2008 工业循环冷却水中余氯的测定
  • DB44/T 1711-2015 广东省气雾剂中氯苯类化合物的测定 气相色谱-质谱法
  • GB/T 14636-2007 工业循环冷却水中钙、镁含量的测定　原子吸收光谱法
  • SN/T 4568-2016 全氟烷基碘产品含量测定 气相色谱质谱法
  • SN/T 4372-2015 聚烯烃氧化诱导时间的测定 差示扫描量热法
  • DB53/T 500-2013 云南省多晶硅用三氯氢硅组分含量测定 气相色谱法
  • GB/T 23278.5-2009 锡酸钠化学分析方法 第5部分：锑量的测定 孔雀绿分光光度法
  • GB/T 29556-2013 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定
  • SN/T 0838.3-2015 进出口硼酸和硼砂中镍含量测定方法 火焰原子吸收分光光度法
  • GB/T 5275.7-2014 气体分析 动态体积法制备校准用混合气体 第7部分：热式质量流量控制器
  • GB/T 16555.5-1996 碳化硅耐火材料化学分析方法 邻二氮杂菲光度法测定三氧化二铁量
  • SN/T 0546-2004 出口硫镁矾中氧化钙、氧化镁及硫含量测定方法
  • GB/T 37185-2018 气体分析 室内挥发性有害有机物的测定 “SUMMA罐-硅烷化管”采样气相色谱/质谱联用（GC/MS）法
  • GB/T 14427-2017 锅炉用水和冷却水分析方法 铁的测定
  • GB/T 8984-2008 气体中一氧化碳、二氧化碳和碳氢化合物的测定 气相色谱法
  • GB/T 32495-2016 表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法
  • GB/T 5832.2-1986 气体中微量水分的测定 露点法
用户分享资源

GB/T 33236-2016 多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法

Polycrystalline silicon—Determination of... 上传文件 注:本列表内文件主要来源于网友们的分享上传。如您发现有不正确不合适的内容，请及时联系客服
纠错反馈
GB/T 33236-2016 多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法
提交反馈
分类列表
确定
上传文件
完全匿名 前台匿名 显示用户名 点击选择文件
{{uploadFile.name}} {{uploadFile.sizeStr}}
目前支持上传小于100MB的PDF、OCF、OCS格式文件
注:您上传文件即代表同意平台可以公开给所有用户下载。平台会根据您的选择及实际情况，为您发放相应的直接或分成奖励。平台也可以根据实际情况需要，对您上传到服务器的文件进行调整隐藏删除等，而无需通知到您。
联系客服

纸书购买链接招商中，联系客服入驻

客服QQ： 2449276725 1455033258

1098903864 1969329120

客服电话：0379-80883238

电子邮箱：ocsyun@126.com