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GB/T 33657-2017 纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范
Nanotechnologies—Electrical operating parameter test specification of wafer level nano-scale phase change memory cells
基本信息
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标准号：
GB/T 33657-2017
-
名称：
纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范
-
英文名称：
Nanotechnologies—Electrical operating parameter test specification of wafer level nano-scale phase change memory cells
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状态：
现行
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类型：
国家标准
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性质：
推荐性
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发布日期：
2017-05-12
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实施日期：
2017-12-01
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废止日期：
暂无
-
相关公告：
实施公告【关于批准发布《农历的编算和颁行》等334项国家标准的公告】
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分类信息
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ICS分类：
【
电子学（31）
集成电路、微电子学（31.200）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
微电路（L55/59）
半导体集成电路（L56）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
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