收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 249-2017 半导体分立器件型号命名方法
The rule of type designation for discrete semiconductor devices
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
半导体分立器件（31.080）
半导体分立器件综合（31.080.01）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
半导体分立器件（L40/49）
半导体分立器件综合（L40）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 4937.18-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分：电离辐照(总剂量)
-
GB/T 20516-2006
半导体器件 分立器件 第4部分：微波器件
-
SJ/T 11586-2016
半导体器件10KeV低能X射线总剂量辐照试验方法
-
GB/T 4937.30-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分：非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理
-
GB/T 4937.20-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第20部分：塑封表面安装器件耐潮湿和焊接热综合影响
-
GB/T 20521-2006
半导体器件 第14-1部分: 半导体传感器-总则和分类
-
GB/T 29332-2012
半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT)
-
GB/T 11499-2001
半导体分立器件文字符号
-
GB/T 4589.1-1989
半导体器件 分立器件和集成电路总规范 (可供认证用)
-
GB/T 4937.11-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法
-
SJ 1605-1980
硅双基极二极管饱和压降的测试方法
-
GB/T 4937.4-2012
半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）
-
GB/T 15651-1995
半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件
-
SJ 1607-1980
硅双基极二极管调制电流的测试方法
-
GB/T 4937.12-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动
-
GB/T 4937.17-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分：中子辐照
-
GB/T 17573-1998
半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分:总则
-
GB 12300-1990
功率晶体管安全工作区测试方法
-
SJ 50033/160-2002
半导体分立器件 3DG122型硅超高频小功率晶体管详细规范
-
GB/T 249-1989
半导体分立器件型号命名方法
打开设置，点击
执行注册
