收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 249-2017 半导体分立器件型号命名方法
The rule of type designation for discrete semiconductor devices
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
半导体分立器件(31.080)
半导体分立器件综合(31.080.01)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
半导体分立器件(L40/49)
半导体分立器件综合(L40)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 4937.201-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第20-1部分:对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输
-
GB/T 4937.13-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾
-
GB/T 20522-2006
半导体器件 第14-3部分: 半导体传感器-压力传感器
-
SJ 1604-1980
硅双基极二极管发射极与第一基极间反向电流的测试方法
-
GB/T 12560-1999
半导体器件 分立器件分规范
-
GB/T 12300-1990
功率晶体管安全工作区测试方法
-
GB/T 20995-2007
输配电系统的电力电子技术 静止无功补偿装置用晶闸管阀的试验
-
JB/T 11050-2010
交流固态继电器
-
DB63/T 2021-2022
青海省市场监管信息技术服务管理规范
-
GB/T 4937.12-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分:扫频振动
-
GB/T 17573-1998
半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分:总则
-
GB 11499-1989
半导体分立器件文字符号
-
SJ 1602-1980
硅双基极二极管测试方法总则
-
SJ 50033/160-2002
半导体分立器件 3DG122型硅超高频小功率晶体管详细规范
-
SJ 1608-1980
硅双基极二极管各点电压和各点电流的测试方法
-
DB52/T 1104-2016
贵州省半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法
-
DB52/T 844-2013
贵州省半导体电流调整管
-
GB/T 4937.21-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第21部分:可焊性
-
GB/T 29332-2012
半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT)
-
SJ 1606-1980
硅双基极管峰点电流的测试方法