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T/IAWBS 004-2017 电动汽车用功率半导体模块可靠性试验通用要求及试验方法

General reliability test requirements and test methods for power semiconductor devices in electric vehicle applications
基本信息
  • 标准号：
    T/IAWBS 004-2017
  • 名称：
    电动汽车用功率半导体模块可靠性试验通用要求及试验方法
  • 英文名称：
    General reliability test requirements and test methods for power semiconductor devices in electric vehicle applications
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    团体标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2017-12-20
  • 实施日期：
    2017-12-31
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    暂无
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分类信息
  • ICS分类：
    【 试验（19） 试验条件和规程综合（19.020） 】、
    【 电子学（31） 半导体分立器件（31.080） 半导体分立器件综合（31.080.01） 】
  • CCS分类：
    【 电子元器件与信息技术（L） 电子元器件与信息技术综合（L00/09） 基础标准与通用方法（L04） 】
  • 行标分类：
    暂无
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    本标准规定了电动汽车用功率半导体模块可靠性试验前的功能性检查要求、可靠性试验过程中的通用要求及可靠性试验方法，以及
    宽禁带半导体模块，如碳化硅基MOSFET特殊的试验要求。
    本标准适用的功率半导体模块，包括但不限于绝缘栅双极晶体管(IGBT)、金属氧化物场效应晶体管(MOSFET)和二极管模块。
    本标准可为电动汽车用功率半导体模块的可靠性定型试验及可靠性的设计与检验提供指南。
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 引用标准：
    GB/T 2423.1 GB/T 2423.2 GB/T 2423.5 GB/T 2423.10 GB/T 2423.22 GB/T 4023-2015 GB/T 29332-2012 IEC 60747-8:2010 IEC 60749-5 IEC 60749-23 IEC 60749-34 JS-001
相关部门
  • 起草单位：
    中国科学院电工研究所 中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟 北京天科合达半导体股份有限公司 北汽电动汽车股份有限公司 大洋电机新动力科技有限公司 泰科天润半导体科技（北京）有限公司等
相关人员
  • 起草人：
    张瑾 仇志杰 葛亮 孔亮 陈彤 刘志宏 张舟云 张琴 王志超 杨寿国 陆敏 彭同华 刘振洲
关联标准
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  • GB/T 31229-2014 热重法测定挥发速率的试验方法
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