收藏到云盘
纠错反馈
T/IAWBS 001-2017 碳化硅单晶
Monocrystalline silicon carbide
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电气工程(29)
半导体材料(29.045)
】
-
CCS分类:
【
冶金(H)
半金属与半导体材料(H80/84)
半金属与半导体材料综合(H80)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 19199-2003
半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法
-
GB/T 29055-2019
太阳能电池用多晶硅片
-
GB/T 1551-2009
硅单晶电阻率测定方法
-
GB/T 1555-1997
半导体单晶晶向测定方法
-
SJ/T 11498-2015
重掺硅衬底中氧浓度的二次离子质谱测量方法
-
GB/T 29852-2013
光伏电池用硅材料中P、As、Sb施主杂质含量的二次离子质谱测量方法
-
GB/T 30854-2014
LED发光用氮化镓基外延片
-
GB/T 14264-2009
半导体材料术语
-
GB/T 4058-2009
硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法
-
GB/T 30861-2014
太阳能电池用锗衬底片
-
YS 68-2004
砷
-
GB/T 36706-2018
磷化铟多晶
-
GB/T 24574-2009
硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法
-
SJ/T 11499-2015
碳化硅单晶电学性能的测试方法
-
YS/T 43-2011
高纯砷
-
GB/T 14140-2009
硅片直径测量方法
-
GB/T 1555-2009
半导体单晶晶向测定方法
-
GB/T 35308-2017
太阳能电池用锗基Ⅲ-Ⅴ族化合物外延片
-
SJ/T 11490-2015
低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法
-
GB/T 20229-2006
磷化镓单晶