收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 33929-2017 MEMS高g值加速度传感器性能试验方法
Test methods of the performance for MEMS high g accelerometer
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
集成电路、微电子学（31.200）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
微电路（L55/59）
微电路综合（L55）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 38762.1-2020
产品几何技术规范（GPS） 尺寸公差 第1部分：线性尺寸
-
GB/T 13067-1991
半导体集成电路系列和品种 石英电子钟表用系列的品种
-
GB/T 14026-1992
半导体集成电路微型计算机电路系列和品种 80C86系列的品种
-
GB/T 15297-1994
微电路模块机械和气候试验方法
-
GB/T 14027.1-1992
半导体集成电路通信电路系列和品种 有源滤波器系列品种
-
GB/T 38341-2019
微机电系统（MEMS）技术 MEMS器件的可靠性综合环境试验方法
-
GB/T 32815-2016
硅基MEMS制造技术 体硅压阻加工工艺规范
-
GB/T 11498-2018
半导体器件 集成电路 第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)
-
GB/T 35004-2018
数字集成电路 输入/输出电气接口模型规范
-
GB/T 15877-2013
半导体集成电路 蚀刻型双列封装引线框架规范
-
GB/T 15876-1995
塑料四面引线扁平封装引线框架规范
-
GB/T 34899-2017
微机电系统（MEMS）技术 基于拉曼光谱法的微结构表面应力测试方法
-
GB/T 11498-1989
膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序) (可供认证用)
-
GB/T 12843-1991
半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理
-
GB/T 14029-1992
半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
-
GB/T 6813-1986
半导体集成非线性电路系列和品种 时基电路的品种
-
GB/T 14620-1993
薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
-
SJ/T 10741-2000
半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
-
GB/T 14025-1992
半导体集成电路门阵列电路系列和品种 ECL系列的品种
-
SJ/T 11704-2018
微电子封装的数字信号传输特性测试方法
打开设置，点击
执行注册
