收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 33929-2017 MEMS高g值加速度传感器性能试验方法
Test methods of the performance for MEMS high g accelerometer
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
集成电路、微电子学(31.200)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
微电路(L55/59)
微电路综合(L55)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 35010.3-2018
半导体芯片产品 第3部分:操作、包装和贮存指南
-
GB/T 13067-1991
半导体集成电路系列和品种 石英电子钟表用系列的品种
-
GB/T 7092-1993
半导体集成电路外形尺寸
-
GB/T 35010.8-2018
半导体芯片产品 第8部分:数据交换的EXPRESS格式
-
GB/T 15877-1995
蚀刻型双列封装引线框架规范
-
GB/T 26113-2010
微机电系统(MEMS)技术 微几何量评定总则
-
GB 11498-1989
膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)(可供认证用)
-
GB/T 4377-1996
半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理
-
GB/T 3434-1986
半导体集成电路ECL电路系列和品种
-
GB/T 36477-2018
半导体集成电路 快闪存储器测试方法
-
GB/T 14112-2015
半导体集成电路 塑料双列封装冲制型引线框架规范
-
GB/T 4376-1994
半导体集成电路 电压调整器系列和品种
-
DB44/T 1903-2016
广东省线路板特性阻抗测试方法 时域反射法
-
GA/T 1171-2014
芯片相似性比对检验方法
-
SJ 20954-2006
集成电路锁定试验
-
GB/T 19248-2003
封装引线电阻测试方法
-
GB/T 14026-1992
半导体集成电路微型计算机电路系列和品种 80C86系列的品种
-
GB/T 17866-1999
掩模缺陷检查系统灵敏度分析所用的特制缺陷掩模和评估测量方法准则
-
GB/T 14620-1993
薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
-
GB/T 6814-1986
半导体集成非线性电路系列和品种 模拟开关的品种