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SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法

基本信息
  • 标准号：
    SJ/T 11706-2018
  • 名称：
    半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
  • 英文名称：
    暂无
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    行业标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2018-02-09
  • 实施日期：
    2018-04-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    实施公告【2018年第6号(总第222号)】
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    本标准规定了SRAM型现场可编程门阵列（Field Programmable Gate Array，以下简称FPGA）的电参数测试方法。
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
  • 起草单位：
    中国电子技术标准化研究院 上海复旦微电子集团股份有限公司 上海复旦微电子集团股份有限公司 中国科学院电子技术研究所等
相关人员
暂无
关联标准