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SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
基本信息
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标准号：
SJ/T 11706-2018
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名称：
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
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英文名称：
暂无
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状态：
现行
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类型：
行业标准
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性质：
推荐性
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发布日期：
2018-02-09
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实施日期：
2018-04-01
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废止日期：
暂无
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相关公告：
实施公告【2018年第6号(总第222号)】
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