收藏到云盘
纠错反馈

SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法

基本信息
  • 标准号:
    SJ/T 11706-2018
  • 名称:
    半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
  • 英文名称:
    暂无
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    行业标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2018-02-09
  • 实施日期:
    2018-04-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    实施公告【2018年第6号(总第222号)】
    • 阅读或下载 使用APP、PC客户端等功能更强大
    • 网页在线阅读 体验阅读、搜索等基本功能
    • 用户分享资源 来自网友们上传分享的文件
    • 纸书购买 平台官方及网友推荐
分类信息
  • ICS分类:
    暂无
  • CCS分类:
    电子元器件与信息技术(L) 微电路(L55/59) 微电路综合(L55)
  • 行标分类:
    电子(SJ)
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    本标准规定了SRAM型现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,以下简称FPGA)的电参数测试方法。
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
  • 起草单位:
    中国电子技术标准化研究院 上海复旦微电子集团股份有限公司 上海复旦微电子集团股份有限公司 中国科学院电子技术研究所等
相关人员
暂无
关联标准
  • SJ/T 10612.2-1995 30MHz~1GHz声音和电视广播接收天线;第2部分:电性能参数的测量方法
  • SJ/T 99-2016 变压器和扼流圈用铁心片及铁心叠厚系列
  • SJ/T 10571-1994 RJ73型精密金属膜电阻器详细规范
  • SJ/T 11136-1997 电子陶瓷二氧化锆材料
  • SJ/T 11279-2002 电子设备用压敏电阻器 第3部分:空白详细规范 防雷指示型过电压保护器 评定水平E
  • SJ/T 11334-2006 卫星数字电视接收器通用规范
  • SJ/T 10427.2-1993 半导体集成电路音响电路中频放大器测试方法的基本原理
  • SJ/T 10441-1993 移动通信选择呼叫高频段和模拟系统设备测量方法
  • SJ/T 11589-2016 雷达用电站方舱通用规范
  • SJ/T 11577-2016 SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》应用指南
  • SJ/T 10468-1993 大型电子系统设备质量工程控制指南
  • SJ/T 10578-1994 断路器用陶瓷真空开关管空白详细规范
  • SJ/T 11412-2010 防静电洁净工作服及织物通用规范
  • SJ/T 10575-1994 接触器用真空开关管总规范
  • SJ/T 11121-1997 应用电视视频控制设备通用技术条件
  • SJ/T 10466.9-1993 生产(工艺准备)质量指南
  • SJ/T 11104-2016 金电镀层规范
  • SJ/T 2354-2015 PIN、雪崩光电二极管测试方法
  • SJ/T 10493-1994 KND2型波动开关
  • SJ/T 10519.32-1994 塑料注射模零件 支柱
用户分享资源

SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法

上传文件
注:本列表内文件主要来源于网友们的分享上传。如您发现有不正确不合适的内容,请及时联系客服
纠错反馈
SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
提交反馈
分类列表
确定
上传文件
完全匿名 前台匿名 显示用户名 点击选择文件
{{uploadFile.name}} {{uploadFile.sizeStr}}
目前支持上传小于100MB的PDF、OCF、OCS格式文件
注:您上传文件即代表同意平台可以公开给所有用户下载。平台会根据您的选择及实际情况,为您发放相应的直接或分成奖励。平台也可以根据实际情况需要,对您上传到服务器的文件进行调整隐藏删除等,而无需通知到您。
联系客服

纸书购买链接招商中,联系客服入驻

客服QQ: 2449276725 1455033258

1098903864 1969329120

客服电话:0379-80883238

电子邮箱:ocsyun@126.com