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SJ/T 11705-2018 微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法
基本信息
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标准号：
SJ/T 11705-2018
-
名称：
微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法
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英文名称：
暂无
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状态：
现行
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类型：
行业标准
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性质：
推荐性
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发布日期：
2018-02-09
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实施日期：
2018-04-01
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废止日期：
暂无
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相关公告：
实施公告【2018年第6号(总第222号)】
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微电路综合（L55）
】
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行标分类：
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