收藏到云盘
纠错反馈
SJ/T 11703-2018 数字微电子器件封装的串扰特性测试方法
基本信息
-
标准号:
SJ/T 11703-2018
-
名称:
数字微电子器件封装的串扰特性测试方法
-
英文名称:
暂无
-
状态:
现行
-
类型:
行业标准
-
性质:
推荐性
-
发布日期:
2018-02-09
-
实施日期:
2018-04-01
-
废止日期:
暂无
-
相关公告:
实施公告【2018年第6号(总第222号)】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类:
暂无
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
微电路(L55/59)
微电路综合(L55)
】
-
行标分类:
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
SJ/T 11341-2006
数字电视阴极射线管背投影显示器通用规范
-
SJ/T 11460.3.2-2013
液晶显示用背光组件 第3-2部分:显示器用LED背光组件空白详细规范
-
SJ/T 2658.1-2015
半导体红外发射二极管测量方法 第1部分:总则
-
SJ/T 10455-1993
厚膜混合集成电路用铜导体浆料
-
SJ/T 11627-2016
太阳能电池用硅片电阻率在线测试方法
-
SJ/T 11577-2016
SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》应用指南
-
SJ/T 11634-2016
电子工业用显影液中甲醇的测定 顶空气相色谱法
-
SJ/T 10375-1993
工艺文件格式的填写
-
SJ/T 10612.2-1995
30MHz~1GHz声音和电视广播接收天线;第2部分:电性能参数的测量方法
-
SJ/T 31080-2016
光掩模制作用图形发生器完好要求和检查评定方法
-
SJ/T 10531-1994
工艺文件的更改
-
GB/T 33929-2017
MEMS高g值加速度传感器性能试验方法
-
SJ/T 11503-2015
碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法
-
SJ/T 11623-2016
信息技术服务 从业人员能力规范
-
SJ/T 11461.6.2-2016
有机发光二极管显示器件 第6-2部分:测试方法-视觉质量
-
SJ/T 10354-1993
WHE121型低功率电位器详细规范
-
SJ/T 10653-1995
短波单边带通信设备环境要求和试验方法
-
SJ/T 10264-1991
半导体集成电路CD3161CS双前置放大器详细规范
-
SJ/T 11234-2001
软件过程能力评估模型
-
SJ/T 10191-1991
713型天气雷达