收藏到云盘
纠错反馈

SJ/T 11702-2018 半导体集成电路 串行外设接口测试方法

基本信息
  • 标准号:
    SJ/T 11702-2018
  • 名称:
    半导体集成电路 串行外设接口测试方法
  • 英文名称:
    暂无
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    行业标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2018-02-09
  • 实施日期:
    2018-04-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    实施公告【2018年第6号(总第222号)】
    • 阅读或下载 使用APP、PC客户端等功能更强大
    • 网页在线阅读 体验阅读、搜索等基本功能
    • 用户分享资源 来自网友们上传分享的文件
    • 纸书购买 平台官方及网友推荐
分类信息
  • ICS分类:
    暂无
  • CCS分类:
    电子元器件与信息技术(L) 微电路(L55/59) 半导体集成电路(L56)
  • 行标分类:
    电子(SJ)
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    本标准规定了半导体集成电路串行外设接口测试方法。
    本标准适用于半导体集成电路串行外设接口电特性及功能验证。
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
  • 起草单位:
    中国电子技术标准化研究院 北京兆易创新科技股份有限公司 深圳市国微电子有限公司
相关人员
暂无
关联标准
  • SJ/T 2658.1-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第1部分:总则
  • SJ/T 10192-1991 714型天气雷达
  • SJ/T 10645-2014 TJC3型条形连接器详细规范
  • SJ/T 31029-2016 数控电火花切割机完好要求和检查评定方法
  • SJ/T 10356-1993 YDG50电动式高频纸盆扬声器
  • GB/T 13068-1991 半导体集成电路系列和品种 磁敏传感器用系列的品种
  • SJ/T 11286-2003 背投影彩色电视广播接收机通用规范
  • SJ/T 11671-2017 工业生产综合监控系统工程施工及质量验收规范
  • SJ/T 10519.01-1994 塑料注射模零件 模板
  • SJ/T 2658.15-2016 半导体红外发射二极管测量方法 第15部分:热阻
  • GB/T 4855-1984 半导体集成电路线性放大器系列和品种
  • SJ/T 11698-2018 无铅焊锡化学分析方法 电感耦合等离子体原子发射光谱法
  • SJ/T 10161.6-1991 真空橡胶密封平面法兰--托环尺寸
  • SJ/T 11512-2015 集成电路用 电子浆料性能试验方法
  • SJ/T 10041-1991 半导体集成电路CMOS4000系列移位寄存器
  • SJ 11151-1997 电视游戏机干扰特性限值和测量方法
  • SJ/T 10775-2000 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RJ14型金属膜固定电阻器 评定水平E
  • SJ/T 11436-2015 风机盘管空调能耗监控系统技术规范
  • SJ/T 10153-1991 混合厚膜集成电路HM0004,HM0190视频输出电路详细规范
  • SJ/T 10423-1993 声级计通用技术条件
用户分享资源

SJ/T 11702-2018 半导体集成电路 串行外设接口测试方法

上传文件
注:本列表内文件主要来源于网友们的分享上传。如您发现有不正确不合适的内容,请及时联系客服
纠错反馈
SJ/T 11702-2018 半导体集成电路 串行外设接口测试方法
提交反馈
分类列表
确定
上传文件
完全匿名 前台匿名 显示用户名 点击选择文件
{{uploadFile.name}} {{uploadFile.sizeStr}}
目前支持上传小于100MB的PDF、OCF、OCS格式文件
注:您上传文件即代表同意平台可以公开给所有用户下载。平台会根据您的选择及实际情况,为您发放相应的直接或分成奖励。平台也可以根据实际情况需要,对您上传到服务器的文件进行调整隐藏删除等,而无需通知到您。
联系客服

纸书购买链接招商中,联系客服入驻

客服QQ: 2449276725 1455033258

1098903864 1969329120

客服电话:0379-80883238

电子邮箱:ocsyun@126.com