收藏到云盘
纠错反馈
SJ/T 11702-2018 半导体集成电路 串行外设接口测试方法
基本信息
-
标准号:
SJ/T 11702-2018
-
名称:
半导体集成电路 串行外设接口测试方法
-
英文名称:
暂无
-
状态:
现行
-
类型:
行业标准
-
性质:
推荐性
-
发布日期:
2018-02-09
-
实施日期:
2018-04-01
-
废止日期:
暂无
-
相关公告:
实施公告【2018年第6号(总第222号)】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类:
暂无
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
微电路(L55/59)
半导体集成电路(L56)
】
-
行标分类:
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
SJ/T 3172.13-2013
铁氧体磁心的尺寸 第13部分:电源用PQ型磁心
-
SJ/T 11124-1997
电子元器件用环氧系粉末包封材料
-
SJ/T 10353-1993
GBB21型金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器详细规范
-
SJ/T 11680-2017
信息技术 软件项目度量元
-
SJ/T 11389-2009
无铅焊接用助焊剂
-
SJ/T 11469-2014
压电陶瓷材料性能测试方法 切变压电应变常数d15的准静态测试
-
SJ/T 10236-1991
无线电力负荷控制终端装置通用技术条件
-
SJ/T 11427-2010
基于GNSS精密进近局域增强系统(LAAS)的空间信号格式
-
SJ/T 11135-1997
TJC201型条形连接器规范
-
SJ/T 10519.03-1994
塑料注射模零件 预杆固定板、垫板
-
SJ/T 10406-2016
声频功率放大器通用规范
-
SJ/T 10675-2002
电子及电器工业用二氧化硅微粉
-
SJ/T 10195-1991
中小规模数字集成电路静态参数测试仪通用技术条件
-
SJ/T 10359-1993
精密联轴器技术条件
-
SJ/T 11379-2008
等离子体显示器件 第4部分:气候和机械试验方法
-
SJ/T 10526-1994
电视广播接收机设计文件的计算机编制规范
-
SJ/T 11442-2012
电子信息行业安全生产标准化评价方法
-
SJ/T 11125-1997
电子元器件用环氧系灌封材料
-
SJ/T 2406-2018
微波电路型号命名方法
-
SJ/T 11121-1997
应用电视视频控制设备通用技术条件