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SJ/T 11699-2018 IP核可测性设计指南

基本信息
  • 标准号:
    SJ/T 11699-2018
  • 名称:
    IP核可测性设计指南
  • 英文名称:
    暂无
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    行业标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2018-02-09
  • 实施日期:
    2018-04-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
分类信息
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    本标准规定了IP核的可测试性设计约束和结构,对可测试性结构、测试包封及测试接口进行规定。
    本标准适用于对IP核进行可测试性设计、测试集成和IP核测试。
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
  • 起草单位:
    中国电子技术标准化研究院 哈尔滨工业大学 哈尔滨工业大学 工业和信息化部软件与集成电路促进中心等
相关人员
暂无