收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 34894-2017 微机电系统（MEMS）技术 基于光学干涉的MEMS微结构应变梯度测量方法
Micro-electromechanical system technology—Measuring method for strain gradient measurements of MEMS microstructures using an optical interferometer
基本信息
-
标准号：
GB/T 34894-2017
-
名称：
微机电系统（MEMS）技术 基于光学干涉的MEMS微结构应变梯度测量方法
-
英文名称：
Micro-electromechanical system technology—Measuring method for strain gradient measurements of MEMS microstructures using an optical interferometer
-
状态：
现行
-
类型：
国家标准
-
性质：
推荐性
-
发布日期：
2017-11-01
-
实施日期：
2018-05-01
-
废止日期：
暂无
-
相关公告：
实施公告【关于批准发布《标准电压》等585项国家标准和2项国家标准修改单的公告】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
集成电路、微电子学（31.200）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
微电路（L55/59）
微电路综合（L55）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 11498-2018
半导体器件 集成电路 第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)
-
GB/T 15878-1995
小外形封装引线框架规范
-
GB/T 33922-2017
MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法
-
T/CIE 068-2020
工业级高可靠集成电路评价 第2部分：DC/DC变换器
-
GB/T 3434-1986
半导体集成电路ECL电路系列和品种
-
GB/T 13068-1991
半导体集成电路系列和品种 磁敏传感器用系列的品种
-
GB/T 4855-1984
半导体集成电路线性放大器系列和品种
-
GB/T 38341-2019
微机电系统（MEMS）技术 MEMS器件的可靠性综合环境试验方法
-
GB/T 14112-2015
半导体集成电路 塑料双列封装冲制型引线框架规范
-
GB/T 14112-1993
半导体集成电路 塑料双列封装冲制型引线框架规范
-
GB/T 35010.3-2018
半导体芯片产品 第3部分：操作、包装和贮存指南
-
GB/T 17024-1997
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第三篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列空白详细规范
-
GB/T 16878-1997
用于集成电路制造技术的检测图形单元规范
-
GB/T 35011-2018
微波电路 压控振荡器测试方法
-
SJ/T 11585-2016
串行存储器接口要求
-
GB/T 15879.4-2019
半导体器件的机械标准化 第4部分：半导体器件封装外形的分类和编码体系
-
GB/T 14129-1993
半导体集成电路TTL电路系列和品种 PAL系列的品种
-
GB/T 26111-2010
微机电系统（MEMS）技术 术语
-
GB/T 16527-1996
硬面感光板中光致抗蚀剂和电子束抗蚀剂规范
-
GB/T 12843-1991
半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理
打开设置，点击
执行注册
