收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 34894-2017 微机电系统（MEMS）技术 基于光学干涉的MEMS微结构应变梯度测量方法
Micro-electromechanical system technology—Measuring method for strain gradient measurements of MEMS microstructures using an optical interferometer
基本信息
-
标准号：
GB/T 34894-2017
-
名称：
微机电系统（MEMS）技术 基于光学干涉的MEMS微结构应变梯度测量方法
-
英文名称：
Micro-electromechanical system technology—Measuring method for strain gradient measurements of MEMS microstructures using an optical interferometer
-
状态：
现行
-
类型：
国家标准
-
性质：
推荐性
-
发布日期：
2017-11-01
-
实施日期：
2018-05-01
-
废止日期：
暂无
-
相关公告：
实施公告【关于批准发布《标准电压》等585项国家标准和2项国家标准修改单的公告】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
集成电路、微电子学（31.200）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
微电路（L55/59）
微电路综合（L55）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 15509-1995
半导体集成电路系列和品种 彩电遥控器用电路系列的品种
-
SJ/T 11703-2018
数字微电子器件封装的串扰特性测试方法
-
GB/T 3432.4-1989
半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74LS系列的品种
-
GB/T 13067-1991
半导体集成电路系列和品种 石英电子钟表用系列的品种
-
GB/T 3434-1986
半导体集成电路ECL电路系列和品种
-
SJ/T 11706-2018
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
-
GB/T 14112-1993
半导体集成电路 塑料双列封装冲制型引线框架规范
-
GB/T 35005-2018
集成电路倒装焊试验方法
-
GB/T 26113-2010
微机电系统（MEMS）技术 微几何量评定总则
-
GB/T 13064-1991
半导体集成电路系列和品种 复印机用系列的品种
-
SJ/Z 11360-2006
集成电路IP核信号完整性规范
-
GB/T 3435-1987
半导体集成CMOS电路系列和品种 4000系列的品种
-
GB/T 36479-2018
集成电路 焊柱阵列试验方法
-
GB/T 36477-2018
半导体集成电路 快闪存储器测试方法
-
GB/T 16465-1996
膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用能力批准程序)
-
GB/T 8976-1996
膜集成电路和混合膜集成电路总规范
-
GB/T 12843-1991
半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理
-
GB/T 15876-2015
半导体集成电路 塑料四面引线扁平封装引线框架规范
-
SJ/Z 11352-2006
集成电路IP核测试数据交换格式和准则规范
-
GB/T 11498-1989
膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序) (可供认证用)
打开设置，点击
执行注册
