收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 34893-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法
Micro-electromechanical system technology—Measuring method for in-plane length measurements of MEMS microstructures using an optical interferometer
基本信息
-
标准号:
GB/T 34893-2017
-
名称:
微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法
-
英文名称:
Micro-electromechanical system technology—Measuring method for in-plane length measurements of MEMS microstructures using an optical interferometer
-
状态:
现行
-
类型:
国家标准
-
性质:
推荐性
-
发布日期:
2017-11-01
-
实施日期:
2018-05-01
-
废止日期:
暂无
-
相关公告:
实施公告【关于批准发布《标准电压》等585项国家标准和2项国家标准修改单的公告】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
集成电路、微电子学(31.200)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
微电路(L55/59)
微电路综合(L55)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
SJ/Z 11356-2006
片上总线属性规范
-
GB/T 14862-1993
半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法
-
GB/T 16525-2015
半导体集成电路 塑料有引线片式载体封装引线框架规范
-
YD/T 3944-2021
人工智能芯片基准测试评估方法
-
GB/T 6812-1986
半导体集成非线性电路系列和品种 模拟乘-除法器的品种
-
GB/T 38447-2020
微机电系统(MEMS)技术 MEMS结构共振疲劳试验方法
-
SJ/Z 11352-2006
集成电路IP核测试数据交换格式和准则规范
-
GB/T 35010.7-2018
半导体芯片产品 第7部分:数据交换的XML格式
-
SJ/T 2406-2018
微波电路型号命名方法
-
GB/T 35006-2018
半导体集成电路 电平转换器测试方法
-
GB/T 32817-2016
半导体器件 微机电器件 MEMS总规范
-
GB/T 16526-1996
封装引线间电容和引线负载电容测试方法
-
GB/T 33922-2017
MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法
-
GA/T 1171-2014
芯片相似性比对检验方法
-
SJ/T 11705-2018
微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法
-
SJ/T 11704-2018
微电子封装的数字信号传输特性测试方法
-
GB/T 6800-1986
半导体集成音响电路音频功率放大器测试方法的基本原理
-
SJ/T 10805-2000
半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
-
GB/T 3435-1987
半导体集成CMOS电路系列和品种 4000系列的品种
-
SJ/T 11708-2018
功率电机驱动器测试方法