收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 34893-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法
Micro-electromechanical system technology—Measuring method for in-plane length measurements of MEMS microstructures using an optical interferometer
基本信息
-
标准号:
GB/T 34893-2017
-
名称:
微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法
-
英文名称:
Micro-electromechanical system technology—Measuring method for in-plane length measurements of MEMS microstructures using an optical interferometer
-
状态:
现行
-
类型:
国家标准
-
性质:
推荐性
-
发布日期:
2017-11-01
-
实施日期:
2018-05-01
-
废止日期:
暂无
-
相关公告:
实施公告【关于批准发布《标准电压》等585项国家标准和2项国家标准修改单的公告】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
集成电路、微电子学(31.200)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
微电路(L55/59)
微电路综合(L55)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 33657-2017
纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范
-
GB/T 17574.11-2006
半导体器件 集成电路 第2-11部分:数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范
-
SJ/T 10805-2000
半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
-
SJ/T 10741-2000
半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
-
GB/T 13067-1991
半导体集成电路系列和品种 石英电子钟表用系列的品种
-
GB/T 17940-2000
半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
-
GB/T 14027.7-1992
半导体集成电路通信电路系列和品种 数字交换系统接口电路系列品种
-
GB/T 17574-1998
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
-
GB/T 16527-1996
硬面感光板中光致抗蚀剂和电子束抗蚀剂规范
-
SJ/T 10805-2018
半导体集成电路 电压比较器测试方法
-
GB/T 17866-1999
掩模缺陷检查系统灵敏度分析所用的特制缺陷掩模和评估测量方法准则
-
GB/T 28276-2012
硅基MEMS制造技术 体硅溶片工艺规范
-
GB/T 16466-1996
膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用能力批准程序)
-
GB/T 15650-1995
半导体集成电路系列和品种 CMOS门阵列电路系列的品种
-
SJ/Z 11360-2006
集成电路IP核信号完整性规范
-
SJ 20961-2006
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
-
GB/T 35010.7-2018
半导体芯片产品 第7部分:数据交换的XML格式
-
GB/T 35001-2018
微波电路 噪声源测试方法
-
GB/T 34900-2017
微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构残余应变测量方法
-
GB/T 15862-1995
离子注入机通用技术条件