收藏到云盘
纠错反馈

GB/T 34893-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法

Micro-electromechanical system technology—Measuring method for in-plane length measurements of MEMS microstructures using an optical interferometer
基本信息
  • 标准号:
    GB/T 34893-2017
  • 名称:
    微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法
  • 英文名称:
    Micro-electromechanical system technology—Measuring method for in-plane length measurements of MEMS microstructures using an optical interferometer
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    国家标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2017-11-01
  • 实施日期:
    2018-05-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    实施公告【关于批准发布《标准电压》等585项国家标准和2项国家标准修改单的公告】
    • 阅读或下载 使用APP、PC客户端等功能更强大
    • 网页在线阅读 体验阅读、搜索等基本功能
    • 用户分享资源 来自网友们上传分享的文件
    • 纸书购买 平台官方及网友推荐
分类信息
  • ICS分类:
    电子学(31) 集成电路、微电子学(31.200)
  • CCS分类:
    电子元器件与信息技术(L) 微电路(L55/59) 微电路综合(L55)
  • 行标分类:
    暂无
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    本标准规定了基于光学干涉显微镜获取MEMS微结构表面形貌进行面内长度测量的方法。本标准适用于表面反射率不低于4%,宽深比不低于1∶10,且使用光学干涉显微镜能够获取形貌的MEMS微结构。
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
  • 引用标准:
    GB/T 3505 GB/T 26111 GB/T 26113
相关部门
  • 主管部门:
    国家标准化管理委员会
  • 起草单位:
    中机生产力促进中心 天津大学 国家仪器仪表元器件质量监督检验中心 南京理工大学中国电子科技集团公司第十三研究所
  • 归口单位:
    全国微机电技术标准化技术委员会(SAC/TC 336)
相关人员
暂无
关联标准
  • SJ/Z 11353-2006 集成电路IP核转让规范
  • GB/T 15879.5-2018 半导体器件的机械标准化 第5部分:用于集成电路载带自动焊(TAB)的推荐值
  • YD/T 3944-2021 人工智能芯片基准测试评估方法
  • GB/T 12842-1991 膜集成电路和混合膜集成电路术语
  • GB/T 35010.6-2018 半导体芯片产品 第6部分:热仿真要求
  • GB/T 35086-2018 MEMS电场传感器通用技术条件
  • GB/T 12084-1989 半导体集成电路TTL 电路系列和品种 54/74F系列的品种
  • GB/T 17024-1997 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第三篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列空白详细规范
  • GB/T 11498-1989 膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序) (可供认证用)
  • SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
  • GB/T 35011-2018 微波电路 压控振荡器测试方法
  • GB/T 32816-2016 硅基MEMS制造技术 以深刻蚀与键合为核心的工艺集成规范
  • GB/T 32814-2016 硅基MEMS制造技术 基于SOI硅片的MEMS工艺规范
  • SJ/Z 11361-2006 集成电路IP核保护大纲
  • GB/T 4376-1994 半导体集成电路 电压调整器系列和品种
  • SJ 20802-2001 集成电路金属外壳目检标准
  • GB/T 35010.4-2018 半导体芯片产品 第4部分:芯片使用者和供应商要求
  • GB/T 20515-2006 半导体器件 集成电路 第5部分:半定制集成电路
  • GA/T 1171-2014 芯片相似性比对检验方法
  • SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
用户分享资源

GB/T 34893-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEM...

Micro-electromechanical system technolog...
上传文件
注:本列表内文件主要来源于网友们的分享上传。如您发现有不正确不合适的内容,请及时联系客服
纠错反馈
GB/T 34893-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEM...
提交反馈
分类列表
确定
上传文件
完全匿名 前台匿名 显示用户名 点击选择文件
{{uploadFile.name}} {{uploadFile.sizeStr}}
目前支持上传小于100MB的PDF、OCF、OCS格式文件
注:您上传文件即代表同意平台可以公开给所有用户下载。平台会根据您的选择及实际情况,为您发放相应的直接或分成奖励。平台也可以根据实际情况需要,对您上传到服务器的文件进行调整隐藏删除等,而无需通知到您。
联系客服

纸书购买链接招商中,联系客服入驻

客服QQ: 2449276725 1455033258

1098903864 1969329120

客服电话:0379-80883238

电子邮箱:ocsyun@126.com