收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 25074-2017 太阳能级多晶硅
Solar-grade polycrystalline silicon基本信息
- 标准号:GB/T 25074-2017
- 名称:太阳能级多晶硅
- 英文名称:Solar-grade polycrystalline silicon
- 状态:现行
- 类型:国家标准
- 性质:推荐性
- 发布日期:2017-11-01
- 实施日期:2018-05-01
- 废止日期:暂无
- 相关公告:
分类信息
- ICS分类:【 】
- CCS分类:【 】
- 行标分类:暂无
描述信息
- 前言:暂无
- 适用范围:本标准规定了太阳能级多晶硅的术语和定义、牌号及分类、要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输、贮存和质量证明书。本标准适用于以氯硅烷、硅烷为原料生长的棒状多晶硅或经破碎形成的块状多晶硅。
- 引用标准:暂无
相关标准
- 代替标准:GB/T 25074-2010
- 引用标准:GB/T 1550 GB/T 1551 GB/T 1553 GB/T 1557 GB/T 1558 GB/T 4059 GB/T 4060 GB/T 13389 GB/T 14264 GB/T 14844 GB/T 24574 GB/T 24581 GB/T 24582 GB/T 29057 GB/T 29849 GB/T 31854
相关部门
- 归口单位:2) 全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203) 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC
- 起草单位:有色金属技术经济研究院 新特能源股份有限公司 江苏中能硅业科技发展有限公司 亚洲硅业(青海)有限公司 宜昌南玻硅材料有限公司 洛阳中硅高科技有限公司 内蒙古神舟硅业有限责任公司 多晶硅材料制备国家工程实验室
- 主管部门:全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203) 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员
相关人员
暂无
关联标准
- GB/T 6618-2009 硅片厚度和总厚度变化测试方法
- GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法
- GB/T 24579-2009 酸浸取 原子吸收光谱法测定多晶硅表面金属污染物
- GB/T 29508-2013 300mm 硅单晶切割片和磨削片
- GB/T 6621-2009 硅片表面平整度测试方法
- YS/T 651-2007 二氧化硒
- SJ/T 11487-2015 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法
- GB/T 12963-2014 电子级多晶硅
- GB/T 14139-2009 硅外延片
- GB/T 12964-1996 硅单晶抛光片
- GB/T 31092-2014 蓝宝石单晶晶锭
- GB/T 32573-2016 硅粉 总碳含量的测定 感应炉内燃烧后红外吸收法
- GB/T 11094-2007 水平法砷化镓单晶及切割片
- SJ/T 11494-2015 硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法
- T/IAWBS 001-2017 碳化硅单晶
- YS/T 978-2014 单晶炉碳/碳复合材料导流筒
- GB/T 29054-2019 太阳能电池用铸造多晶硅块
- GB/T 30868-2014 碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法
- SJ/T 11496-2015 红外吸收法测量砷化镓中硼含量
- SJ/T 11489-2015 低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法