收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 25074-2017 太阳能级多晶硅
Solar-grade polycrystalline silicon
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电气工程(29)
半导体材料(29.045)
】
-
CCS分类:
【
冶金(H)
半金属与半导体材料(H80/84)
元素半导体材料(H82)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
归口单位:
2)
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC
203)
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC
203/SC
-
起草单位:
有色金属技术经济研究院
新特能源股份有限公司
江苏中能硅业科技发展有限公司
亚洲硅业(青海)有限公司
宜昌南玻硅材料有限公司
洛阳中硅高科技有限公司
内蒙古神舟硅业有限责任公司
多晶硅材料制备国家工程实验室
-
主管部门:
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC
203)
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员
相关人员
关联标准
-
SJ 20866-2003
交叉辗压钼铼合金片规范
-
SJ/T 11487-2015
半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法
-
GB 12962-1991
硅单晶
-
GB/T 2881-2014e
工业硅
-
SJ/T 11497-2015
砷化镓晶片热稳定性的试验方法
-
GB/T 34479-2017
硅片字母数字标志规范
-
GB/T 24576-2009
高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法
-
GB/T 4058-2009
硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法
-
GB/T 11070-2006
还原锗锭
-
GB/T 17169-1997
硅抛光片和外延片表面质量光反射测试方法
-
GB/T 35305-2017
太阳能电池用砷化镓单晶抛光片
-
GB/T 30453-2013
硅材料原生缺陷图谱
-
GB/T 6620-2009
硅片翘曲度非接触式测试方法
-
GB/T 25076-2018
太阳能电池用硅单晶
-
GB/T 37053-2018
氮化镓外延片及衬底片通用规范
-
GB/T 29505-2013
硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法
-
YS/T 977-2014
单晶炉碳/碳复合材料保温筒
-
GB/T 30652-2014
硅外延用三氯氢硅
-
GB/T 35316-2017
蓝宝石晶体缺陷图谱
-
SJ/T 11495-2015
硅中间隙氧的转换因子指南