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GB/T 34504-2017 蓝宝石抛光衬底片表面残留金属元素测量方法
Measurement method for surface metal contamination on sapphire polished substrate wafer基本信息
- 标准号:GB/T 34504-2017
- 名称:蓝宝石抛光衬底片表面残留金属元素测量方法
- 英文名称:Measurement method for surface metal contamination on sapphire polished substrate wafer
- 状态:现行
- 类型:国家标准
- 性质:推荐性
- 发布日期:2017-10-14
- 实施日期:2018-05-01
- 废止日期:暂无
- 相关公告:
分类信息
- ICS分类:【 】
- CCS分类:【 】
- 行标分类:暂无
描述信息
- 前言:暂无
- 适用范围:本标准规定了蓝宝石抛光衬底片表面深度为5 nm以内的残留金属元素的全反射X光荧光光谱测试方法。本标准适用于蓝宝石抛光衬底片表面残留的、在元素周期表中11(Na)~92(U)号(除去铝和氧),且面密度在109 atoms/cm2~1015 atoms/cm2范围内元素的定量测量。其他用途蓝宝石抛光片表面残留金属元素的测量可参照本标准执行。
- 引用标准:暂无
相关标准
- 引用标准:GB/T 8979-2008 GB/T 14264 GB 50073-2013
相关部门
- 归口单位:2) 全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203) 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC
- 主管部门:国家标准化管理委员会
- 起草单位:天通控股股份有限公司
相关人员
暂无
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