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GB/T 34504-2017 蓝宝石抛光衬底片表面残留金属元素测量方法

Measurement method for surface metal contamination on sapphire polished substrate wafer
基本信息
  • 标准号:
    GB/T 34504-2017
  • 名称:
    蓝宝石抛光衬底片表面残留金属元素测量方法
  • 英文名称:
    Measurement method for surface metal contamination on sapphire polished substrate wafer
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    国家标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2017-10-14
  • 实施日期:
    2018-05-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
分类信息
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    本标准规定了蓝宝石抛光衬底片表面深度为5 nm以内的残留金属元素的全反射X光荧光光谱测试方法。本标准适用于蓝宝石抛光衬底片表面残留的、在元素周期表中11(Na)~92(U)号(除去铝和氧),且面密度在109 atoms/cm2~1015 atoms/cm2范围内元素的定量测量。其他用途蓝宝石抛光片表面残留金属元素的测量可参照本标准执行。
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
  • 引用标准:
    GB/T 8979-2008 GB/T 14264 GB 50073-2013
相关部门
  • 归口单位:
    2) 全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203) 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC
  • 主管部门:
    国家标准化管理委员会
  • 起草单位:
    天通控股股份有限公司
相关人员
暂无