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GB/T 34002-2017 微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法

Microbeam analysis—Analytical transmission electron microscopy—Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 34002-2017
  • 名称：
    微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法
  • 英文名称：
    Microbeam analysis—Analytical transmission electron microscopy—Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2017-07-12
  • 实施日期：
    2018-06-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    实施公告【关于批准发布《开槽平端紧定螺钉》等312项国家标准的公告】
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分类信息
  • ICS分类：
    【 化工技术（71） 分析化学（71.040） 化学分析（71.040.40） 】
  • CCS分类：
    【 化工（G） 化工综合（G00/09） 基础标准与通用方法（G04） 】
  • 行标分类：
    暂无
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    本标准规定了透射电镜（TEM）在很大放大倍率范围内所记录的图像的校准方法。用于校准的标准物质具有周期性结构，例如衍射光栅复型、半导体的超点阵结构或X射线分析的分光晶体以及碳、金或硅的晶体晶格像。
    本标准适用于记录在照相胶片上或成像板上或数字相机内置传感器采集的 TEM图像的放大倍率。本标准也可用于校准标尺，但不适用于专用的临界尺寸测长透射电镜（CD-TEM）和扫描透射电镜（STEM）。
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 引用标准：
    GB/T 27025-2008 ISO Guide 30:1992 ISO Guide 34:2000 ISO Guide 35:2006 ISO/IEC Guide 98-3:2008 ISO 5725-1:1994
  • 采用标准：
    ISO 29301:2010 微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法 （等同采用 IDT）
相关部门
  • 起草单位：
    北京科技大学
  • 归口单位：
    全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
  • 主管部门：
    全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
相关人员
暂无
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