收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 35309-2017 用区熔法和光谱分析法评价颗粒状多晶硅的规程
Practice for evaluation of granular polysilicon by melter-zoner and spectroscopies
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
冶金(77)
金属材料试验(77.040)
】
-
CCS分类:
【
冶金(H)
金属化学分析方法(H10/19)
半金属及半导体材料分析方法(H17)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 4700.1-1984
硅钙合金化学分析方法 高氯酸脱水重量法测定硅量
-
YS/T 37.4-2018
高纯二氧化锗化学分析方法 电感耦合等离子体质谱法测定镁、铝、钴、镍、铜、锌、铟、铅、钙、铁和砷量
-
YB/T 5315-2006
硅钙合金化学分析方法 磷钼蓝分光光度法测定磷量
-
YS/T 226.3-2009
硒化学分析方法 第3部分:铝量的测定 铬天青S-溴代十六烷基吡啶分光光度法
-
GB/T 5242-1985
硬质合金制品检验规则与试验方法
-
YS/T 226.5-2009
硒化学分析方法 第5部分:硅量的测定 硅钼蓝分光光度法
-
YS/T 226.9-2009
硒化学分析方法 第9部分:铁量的测定 火焰原子吸收光谱法
-
GB/T 41153-2021
碳化硅单晶中硼、铝、氮杂质含量的测定 二次离子质谱法
-
GB/T 14142-2017
硅外延层晶体完整性检验方法 腐蚀法
-
GB/T 26074-2010
锗单晶电阻率直流四探针测量方法
-
GB/T 5314-1985
粉末冶金用粉末的取样方法
-
YS/T 602-2017
区熔锗锭电阻率测试方法 两探针法
-
SN/T 1650-2005
金属硅中铁、铝、钙、镁、锰、锌、铜、钛、铬、镍、钒含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
-
YS/T 226.10-1994
硒中硫量的测定(蒸馏还原吸光光度法)
-
GB/T 14849.3-1993
工业硅化学分析方法 钙量的测定
-
GB/T 32280-2022
硅片翘曲度和弯曲度的测试 自动非接触扫描法
-
YS/T 1509.1-2021
硅碳复合负极材料化学分析方法 第1部分:硅含量的测定 重量法和分光光度法
-
YS/T 226.10-2009
硒化学分析方法 第10部分:镍量的测定 火焰原子吸收光谱法
-
GB/T 32281-2015
太阳能级硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的测定 二次离子质谱法
-
GB/T 11346-1989
铝合金铸件X 射线照相检验针孔(圆形)分级