• 当前位置：
    首页 规范标准 GB/T 35309-2017 用区熔法和光谱分析法评价颗粒状多晶硅的规程
收藏到云盘
纠错反馈

GB/T 35309-2017 用区熔法和光谱分析法评价颗粒状多晶硅的规程

Practice for evaluation of granular polysilicon by melter-zoner and spectroscopies
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 35309-2017
  • 名称：
    用区熔法和光谱分析法评价颗粒状多晶硅的规程
  • 英文名称：
    Practice for evaluation of granular polysilicon by melter-zoner and spectroscopies
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2017-12-29
  • 实施日期：
    2018-07-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    实施公告【关于批准发布《养老机构服务质量基本规范》等1090项国家标准、4项国家标准修改单和51项国家标准外文版的公告】
    • 阅读或下载 使用APP、PC客户端等功能更强大
    • 网页在线阅读 体验阅读、搜索等基本功能
    • 用户分享资源 来自网友们上传分享的文件
    • 纸书购买 平台官方及网友推荐
分类信息
  • ICS分类：
    【 冶金（77） 金属材料试验（77.040） 】
  • CCS分类：
    【 冶金（H） 金属化学分析方法（H10/19） 半金属及半导体材料分析方法（H17） 】
  • 行标分类：
    暂无
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    本标准规定了用区熔法和光谱分析法评价颗粒状多晶硅的代位碳原子浓度、施主杂质浓度和受主杂质浓度的方法。本标准适用于尺寸为600 μm～3 000 μm的颗粒状多晶硅，其他尺寸的颗粒状多晶硅可参照本标准执行。
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 引用标准：
    GB/T 620 GB/T 622 GB/T 626 GB/T 1558 GB/T 4059 GB/T 4842 GB/T 6679 GB/T 11446.1 GB/T 14264 GB/T 24581 GB/T 25915.1 GB/T 29057
相关部门
  • 归口单位：
    2) 全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203) 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC
  • 主管部门：
    国家标准化管理委员会
  • 起草单位：
    新特能源股份有限公司 江苏中能硅业科技发展有限公司 洛阳中硅高科技有限公司 青海黄河上游水电开发有限责任公司新能源分公司 天津市环欧半导体材料技术有限公司
相关人员
暂无
关联标准
  • YS/T 226.2-1994 硒中锑量的测定(孔雀绿吸光光度法)
  • DL/T 818-2002 低合金耐热钢碳化物相分析技术导则
  • SN/T 1650-2005 金属硅中铁、铝、钙、镁、锰、锌、铜、钛、铬、镍、钒含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
  • GB/T 4700.4-1998 硅钙合金化学分析方法 磷钼蓝分光光度法测定磷量
  • GB/T 5314-1985 粉末冶金用粉末的取样方法
  • GB/T 5242-1985 硬质合金制品检验规则与试验方法
  • YS/T 37.5-2018 高纯二氧化锗化学分析方法 石墨炉原子吸收光谱法测定铁量
  • YS/T 37.4-1992 高纯二氧化锗化学分析方法 化学光谱法测定 铁,镁,铅,镍,铝,钙,铜,铟和锌量
  • GB/T 14849.3-2020 工业硅化学分析方法 第3部分：钙含量的测定
  • DB53/T 796-2016 云南省富锡渣中铟含量的测定 原子吸收光谱法
  • GB/T 33763-2017 蓝宝石单晶位错密度测量方法
  • GB/T 4373.4-1984 砷化学分析方法 二硫代二安替比林基甲烷光度法测定铋量
  • YB/T 5314-2006 硅钙合金化学分析方法 EDTA滴定法测定铝量
  • YS/T 981.1-2014 高纯铟化学分析方法 镁、铝、硅、硫、铁、镍、铜、锌、砷、银、镉、锡、铊、铅的测定 高质量分辨率辉光放电质谱法
  • SN/T 1039-2002 进出口吨包装碳化硅取样制样方法
  • YS/T 26-2016 硅片边缘轮廓检验方法
  • YB/T 135-1998 镀铜钢丝镀层重量及其组分试验方法
  • GB/T 39145-2020 硅片表面金属元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法
  • GB/T 4060-2018 硅多晶真空区熔基硼检验方法
  • GB/T 39144-2020 氮化镓材料中镁含量的测定 二次离子质谱法
用户分享资源

GB/T 35309-2017 用区熔法和光谱分析法评价颗粒状多晶硅的规程

Practice for evaluation of granular poly... 上传文件 注:本列表内文件主要来源于网友们的分享上传。如您发现有不正确不合适的内容，请及时联系客服
纠错反馈
GB/T 35309-2017 用区熔法和光谱分析法评价颗粒状多晶硅的规程
提交反馈
分类列表
确定
上传文件
完全匿名 前台匿名 显示用户名 点击选择文件
{{uploadFile.name}} {{uploadFile.sizeStr}}
目前支持上传小于100MB的PDF、OCF、OCS格式文件
注:您上传文件即代表同意平台可以公开给所有用户下载。平台会根据您的选择及实际情况，为您发放相应的直接或分成奖励。平台也可以根据实际情况需要，对您上传到服务器的文件进行调整隐藏删除等，而无需通知到您。
联系客服

纸书购买链接招商中，联系客服入驻

客服QQ： 2449276725 1455033258

1098903864 1969329120

客服电话：0379-80883238

电子邮箱：ocsyun@126.com