• 当前位置：
    首页 规范标准 GB/T 34481-2017 低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法
收藏到云盘
纠错反馈

GB/T 34481-2017 低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法

Test method for measuring etch pit density (EPD) in low dislocation density monocrystalline germanium slices
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 34481-2017
  • 名称：
    低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法
  • 英文名称：
    Test method for measuring etch pit density (EPD) in low dislocation density monocrystalline germanium slices
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2017-10-14
  • 实施日期：
    2018-07-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    实施公告【关于批准发布《智慧城市 技术参考模型》等425项国家标准的公告】
    • 阅读或下载 使用APP、PC客户端等功能更强大
    • 网页在线阅读 体验阅读、搜索等基本功能
    • 用户分享资源 来自网友们上传分享的文件
    • 纸书购买 平台官方及网友推荐
分类信息
  • ICS分类：
    【 冶金（77） 金属材料试验（77.040） 】
  • CCS分类：
    【 冶金（H） 金属理化性能试验方法（H20/29） 金属化学性能试验方法（H25） 】
  • 行标分类：
    暂无
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    本标准规定了低位错密度锗单晶片的腐蚀坑密度(EPD)的测量方法。本标准适用于测试位错密度小于1 000个/cm2、直径为75 mm~150 mm的圆形锗单晶片的位错腐蚀坑密度。
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 引用标准：
    GB/T 5252
相关部门
  • 归口单位：
    2) 全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203) 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC
  • 主管部门：
    国家标准化管理委员会
  • 起草单位：
    云南临沧鑫圆锗业股份有限公司 云南中科鑫圆晶体材料有限公司 中科院半导体研究所
相关人员
暂无
关联标准
  • ZB Y 187-1983 仪表用金属材料 实验室均匀腐蚀全浸试验方法
  • GB/T 16545-2015 金属和合金的腐蚀 腐蚀试样上腐蚀产物的清除
  • GB/T 29088-2012 金属和合金的腐蚀 双环电化学动电位再活化测量方法
  • JB/T 10063-1999 超声探伤用1号标准试块 技术条件
  • GB/T 15970.7-2017 金属和合金的腐蚀 应力腐蚀试验 第7部分: 慢应变速率试验
  • SN/T 2091-2008 进出口锑锭中铅、铜、铁、铋含量的测定 原子吸收光谱法
  • GB/T 24195-2009 金属和合金的腐蚀 酸性盐雾、“干燥”和“湿润”条件下的循环加速腐蚀试验
  • GB/T 19292.4-2003 金属和合金的腐蚀 大气腐蚀性 用于评估腐蚀性的标准试样的腐蚀速率的测定
  • GB/T 30857-2014 蓝宝石衬底片厚度及厚度变化测试方法
  • GB/T 4334-2008 金属和合金的腐蚀 不锈钢晶间腐蚀试验方法
  • SJ/T 11631-2016 太阳能电池用硅片外观缺陷测试方法
  • GB/T 40314-2021 金属和合金的腐蚀 适用于不锈钢平板或管状试样的碟形弹簧缝隙腐蚀构型
  • GB/T 8014.2-2005 铝及铝合金阳极氧化 氧化膜厚度的测量方法 第2部分:质量损失法
  • GB/T 39155-2020 金属和合金的腐蚀 海港设施的阴极保护
  • GB/T 30869-2014 太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法
  • YB/T 4454-2015 评估海洋环境中混凝土结构钢筋锈蚀速率的对比试验方法
  • YS/T 14-2015 异质外延层和硅多晶层厚度的测量方法
  • GB/T 3656-1983 电工用纯铁磁性能测量方法
  • GB/T 20122-2006 金属和合金的腐蚀 滴落蒸发试验的应力腐蚀开裂评价
  • GB/T 4157-2017 金属在硫化氢环境中抗硫化物应力开裂和应力腐蚀开裂的实验室试验方法
用户分享资源

GB/T 34481-2017 低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法

Test method for measuring etch pit densi... 上传文件 注:本列表内文件主要来源于网友们的分享上传。如您发现有不正确不合适的内容，请及时联系客服
纠错反馈
GB/T 34481-2017 低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法
提交反馈
分类列表
确定
上传文件
完全匿名 前台匿名 显示用户名 点击选择文件
{{uploadFile.name}} {{uploadFile.sizeStr}}
目前支持上传小于100MB的PDF、OCF、OCS格式文件
注:您上传文件即代表同意平台可以公开给所有用户下载。平台会根据您的选择及实际情况，为您发放相应的直接或分成奖励。平台也可以根据实际情况需要，对您上传到服务器的文件进行调整隐藏删除等，而无需通知到您。
联系客服

纸书购买链接招商中，联系客服入驻

客服QQ： 2449276725 1455033258

1098903864 1969329120

客服电话：0379-80883238

电子邮箱：ocsyun@126.com