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GB/T 34479-2017 硅片字母数字标志规范

Specification for alphanumeric marking of silicon wafers
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 34479-2017
  • 名称：
    硅片字母数字标志规范
  • 英文名称：
    Specification for alphanumeric marking of silicon wafers
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2017-10-14
  • 实施日期：
    2018-07-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    实施公告【关于批准发布《智慧城市 技术参考模型》等425项国家标准的公告】
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    本标准规定了硅片或其他半导体晶片上字母数字标志的编码规范，包括标志的形状和尺寸、字母数字代码的定义、要求和字母数字错码检验方法等。本标准适用于在硅片及其他晶片正面或背面的编码标志。注： 字母数字标志及关联信息存入数据库，可被简单的自动光学字符读数（OCR）仪或人工进行独立、快速识别，确保晶片制造商对晶片标记的一致性。
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 引用标准：
    GB/T 14264 SEMI AUX001 SEMI AUX015
相关部门
  • 归口单位：
    2) 全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203) 203/SC (SAC/TC 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
  • 起草单位：
    有研半导体材料有限公司 浙江省硅材料质量检验中心
  • 主管部门：
    国家标准化管理委员会
相关人员
暂无
关联标准