收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 35010.8-2018 半导体芯片产品 第8部分:数据交换的EXPRESS格式
Semiconductor die products—Part8: EXPRESS model schema for data exchange
基本信息
-
标准号:
GB/T 35010.8-2018
-
名称:
半导体芯片产品 第8部分:数据交换的EXPRESS格式
-
英文名称:
Semiconductor die products—Part8: EXPRESS model schema for data exchange
-
状态:
现行
-
类型:
国家标准
-
性质:
推荐性
-
发布日期:
2018-03-15
-
实施日期:
2018-08-01
-
废止日期:
暂无
-
相关公告:
实施公告【关于批准发布《半导体集成电路 电压调整器测试方法》等20项国家标准的公告】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
集成电路、微电子学(31.200)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
微电路(L55/59)
微电路综合(L55)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
SJ/Z 11357-2006
集成电路IP核软核、硬核的结构、性能和物理建模规范
-
GB/T 15138-1994
膜集成电路和混合集成电路外形尺寸
-
GB/T 15878-2015
半导体集成电路 小外形封装引线框架规范
-
GB/T 18500.2-2001
半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第二篇:线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细规范
-
SJ/T 10741-2000
半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
-
SJ/T 11703-2018
数字微电子器件封装的串扰特性测试方法
-
GB/T 35010.5-2018
半导体芯片产品 第5部分:电学仿真要求
-
SJ/T 11706-2018
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
-
GB/T 14026-1992
半导体集成电路微型计算机电路系列和品种 80C86系列的品种
-
SJ 20938-2005
微波电路变频测试方法
-
GB/T 14112-1993
半导体集成电路 塑料双列封装冲制型引线框架规范
-
GB/T 14129-1993
半导体集成电路TTL电路系列和品种 PAL系列的品种
-
GB/T 17865-1999
焦深与最佳聚焦的测量规范
-
GB/T 17571-1998
碱性二次电池和电池组 扣式密封镉镍可充整体电池组
-
GB/T 36479-2018
集成电路 焊柱阵列试验方法
-
GB/T 16464-1996
半导体器件 集成电路 第1部分:总则
-
SJ/Z 11352-2006
集成电路IP核测试数据交换格式和准则规范
-
GB/T 33929-2017
MEMS高g值加速度传感器性能试验方法
-
GB/T 12845-1991
半导体集成电路非线性电路系列和品种 电压/ 频率和频率/ 电压转换器的品种
-
GB/T 6800-1986
半导体集成音响电路音频功率放大器测试方法的基本原理