收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 35010.7-2018 半导体芯片产品 第7部分:数据交换的XML格式
Semiconductor die products—Part 7: XML schema for data exchange
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
集成电路、微电子学(31.200)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
微电路(L55/59)
微电路综合(L55)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 36477-2018
半导体集成电路 快闪存储器测试方法
-
GB/T 38446-2020
微机电系统(MEMS)技术 带状薄膜抗拉性能的试验方法
-
SJ 20961-2006
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
-
GB/T 14114-1993
半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理
-
GB/T 14026-1992
半导体集成电路微型计算机电路系列和品种 80C86系列的品种
-
GB/T 19248-2003
封装引线电阻测试方法
-
GB/T 6812-1986
半导体集成非线性电路系列和品种 模拟乘-除法器的品种
-
GB/T 35010.6-2018
半导体芯片产品 第6部分:热仿真要求
-
DB44/T 633-2009
广东省锂离子电池保护电路板技术要求
-
GB/T 35001-2018
微波电路 噪声源测试方法
-
GB/T 35011-2018
微波电路 压控振荡器测试方法
-
GB/T 9423-1988
半导体集成TTL电路系列和品种 54/74 ALS 系列的品种
-
SJ/T 10805-2018
半导体集成电路 电压比较器测试方法
-
GB/T 14115-1993
半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
-
GB/T 14029-1992
半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
-
GB/T 9178-1988
集成电路术语
-
GB/T 17571-1998
碱性二次电池和电池组 扣式密封镉镍可充整体电池组
-
GB/T 4855-1984
半导体集成电路线性放大器系列和品种
-
SJ/T 11699-2018
IP核可测性设计指南
-
GB/T 32817-2016
半导体器件 微机电器件 MEMS总规范