收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 35010.7-2018 半导体芯片产品 第7部分:数据交换的XML格式
Semiconductor die products—Part 7: XML schema for data exchange
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
集成电路、微电子学(31.200)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
微电路(L55/59)
微电路综合(L55)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 35006-2018
半导体集成电路 电平转换器测试方法
-
GB/T 14129-1993
半导体集成电路TTL电路系列和品种 PAL系列的品种
-
GB/T 11498-2018
半导体器件 集成电路 第21部分:膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)
-
GB/T 15878-1995
小外形封装引线框架规范
-
GB/T 28275-2012
硅基MEMS制造技术 氢氧化钾腐蚀工艺规范
-
GB/T 3435-1987
半导体集成CMOS电路系列和品种 4000系列的品种
-
GB/T 15509-1995
半导体集成电路系列和品种 彩电遥控器用电路系列的品种
-
GB/T 6648-1986
半导体集成电路静态读/ 写存储器空白详细规范(可供认证用)
-
GB/T 28276-2012
硅基MEMS制造技术 体硅溶片工艺规范
-
SJ 50597/63-2006
半导体集成电路JF124、JF124A型四运算放大器详细规范
-
GB/T 14031-1992
半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
-
GB/T 15879-1995
半导体器件的机械标准化 第5部分:用于集成电路载带自动焊(TAB)的推荐值
-
GB/T 35010.1-2018
半导体芯片产品 第1部分:采购和使用要求
-
GB/T 15650-1995
半导体集成电路系列和品种 CMOS门阵列电路系列的品种
-
SJ/Z 11352-2006
集成电路IP核测试数据交换格式和准则规范
-
GB/T 15877-1995
蚀刻型双列封装引线框架规范
-
GB/T 34899-2017
微机电系统(MEMS)技术 基于拉曼光谱法的微结构表面应力测试方法
-
SJ/Z 11361-2006
集成电路IP核保护大纲
-
GB/T 16523-1996
圆形石英玻璃光掩模基板规范
-
GB/T 17023-1997
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第二篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族规范