收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 35010.5-2018 半导体芯片产品 第5部分:电学仿真要求
Semiconductor die products—Part 5:Requirements for concerning electrical simulation
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
集成电路、微电子学(31.200)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
微电路(L55/59)
微电路综合(L55)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
SJ 20961-2006
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
-
GB/T 14027.5-1992
半导体集成电路通信电路系列和品种 电话电路系列品种
-
GB/T 15879-1995
半导体器件的机械标准化 第5部分:用于集成电路载带自动焊(TAB)的推荐值
-
GB/T 6815-1986
半导体集成非线性电路系列和品种 锁相环的品种
-
GB/T 17574.20-2006
半导体器件 集成电路 第2-20部分:数字集成电路 低压集成电路族规范
-
T/CIE 068-2020
工业级高可靠集成电路评价 第2部分:DC/DC变换器
-
GB/T 14862-1993
半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法
-
SJ 20954-2006
集成电路锁定试验
-
SJ 20938-2005
微波电路变频测试方法
-
GB/T 11498-1989
膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序) (可供认证用)
-
SJ/Z 11351-2006
用于描述、选择和转让的集成电路IP核属性格式标准
-
GB/T 16465-1996
膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用能力批准程序)
-
GB/T 16526-1996
封装引线间电容和引线负载电容测试方法
-
GB/T 18500.2-2001
半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第二篇:线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细规范
-
GB/T 17866-1999
掩模缺陷检查系统灵敏度分析所用的特制缺陷掩模和评估测量方法准则
-
GB/T 35007-2018
半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
-
GB/T 32814-2016
硅基MEMS制造技术 基于SOI硅片的MEMS工艺规范
-
GB/T 14114-1993
半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理
-
GB/T 17940-2000
半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
-
GB/T 16525-1996
塑料有引线片式载体封装引线框架规范