收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 35010.5-2018 半导体芯片产品 第5部分:电学仿真要求
Semiconductor die products—Part 5:Requirements for concerning electrical simulation
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
集成电路、微电子学(31.200)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
微电路(L55/59)
微电路综合(L55)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 17023-1997
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第二篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族规范
-
GB/T 13069-1991
半导体集成电路系列和品种 数控机床用系列的品种
-
GB/T 14114-1993
半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理
-
GB/T 14862-1993
半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法
-
GB/T 17574.11-2006
半导体器件 集成电路 第2-11部分:数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范
-
GB/T 34899-2017
微机电系统(MEMS)技术 基于拉曼光谱法的微结构表面应力测试方法
-
SJ/Z 11360-2006
集成电路IP核信号完整性规范
-
GB/T 36614-2018
集成电路 存储器引出端排列
-
GB/T 34900-2017
微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构残余应变测量方法
-
GB/T 35009-2018
串行NAND型快闪存储器接口规范
-
GB/T 14112-1993
半导体集成电路 塑料双列封装冲制型引线框架规范
-
GB/T 14027.5-1992
半导体集成电路通信电路系列和品种 电话电路系列品种
-
GB/T 36474-2018
半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法
-
GB/T 12750-1991
半导体集成电路分规范 (不包括混合电路) (可供认证用)
-
GB/T 19403.1-2003
半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)
-
ZBBZH/ZS
中国石化加油集成电路(IC)卡应用规范(V1.0版)
-
SJ/T 11703-2018
数字微电子器件封装的串扰特性测试方法
-
GB/T 14031-1992
半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
-
SJ/Z 11357-2006
集成电路IP核软核、硬核的结构、性能和物理建模规范
-
GB/T 8976-1996
膜集成电路和混合膜集成电路总规范