收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 35010.5-2018 半导体芯片产品 第5部分:电学仿真要求
Semiconductor die products—Part 5:Requirements for concerning electrical simulation
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
集成电路、微电子学(31.200)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
微电路(L55/59)
微电路综合(L55)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 32816-2016
硅基MEMS制造技术 以深刻蚀与键合为核心的工艺集成规范
-
GB/T 35010.3-2018
半导体芯片产品 第3部分:操作、包装和贮存指南
-
GB 11498-1989
膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)(可供认证用)
-
GB/T 14619-1993
厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
-
GB/T 16527-1996
硬面感光板中光致抗蚀剂和电子束抗蚀剂规范
-
GB/T 17574.11-2006
半导体器件 集成电路 第2-11部分:数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范
-
GB/T 35002-2018
微波电路 频率源测试方法
-
SJ/T 10741-2000
半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
-
GB/T 14027.3-1992
半导体集成电路通信电路系列和品种 模拟开关阵列系列品种
-
GB/T 34900-2017
微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构残余应变测量方法
-
GB/T 15879-1995
半导体器件的机械标准化 第5部分:用于集成电路载带自动焊(TAB)的推荐值
-
GB/T 14031-1992
半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
-
GB/T 14129-1993
半导体集成电路TTL电路系列和品种 PAL系列的品种
-
GB/T 17940-2000
半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
-
GB/T 33929-2017
MEMS高g值加速度传感器性能试验方法
-
GB/T 19403.1-2003
半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)
-
GB 3430-1989
半导体集成电路型号命名方法
-
GB/T 15136-1994
半导体集成电路石英钟表电路测试方法的基本原理
-
T/CIE 068-2020
工业级高可靠集成电路评价 第2部分:DC/DC变换器
-
GB/T 33922-2017
MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法