收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 35010.3-2018 半导体芯片产品 第3部分:操作、包装和贮存指南
Semiconductor die products—Part 3: Guide for handling, packing and storage
基本信息
-
标准号:
GB/T 35010.3-2018
-
名称:
半导体芯片产品 第3部分:操作、包装和贮存指南
-
英文名称:
Semiconductor die products—Part 3: Guide for handling, packing and storage
-
状态:
现行
-
类型:
国家标准
-
性质:
推荐性
-
发布日期:
2018-03-15
-
实施日期:
2018-08-01
-
废止日期:
暂无
-
相关公告:
实施公告【关于批准发布《半导体集成电路 电压调整器测试方法》等20项国家标准的公告】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
集成电路、微电子学(31.200)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
微电路(L55/59)
微电路综合(L55)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 15862-1995
离子注入机通用技术条件
-
GB/T 3430-1989
半导体集成电路型号命名方法
-
DB44/T 633-2009
广东省锂离子电池保护电路板技术要求
-
GB/T 18500.2-2001
半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第二篇:线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细规范
-
SJ/T 10805-2018
半导体集成电路 电压比较器测试方法
-
GB/T 14112-2015
半导体集成电路 塑料双列封装冲制型引线框架规范
-
GB 12199-1990
非广播盒式磁带录像机环境要求和试验方法
-
GB/T 3432.4-1989
半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74LS系列的品种
-
GB/T 6648-1986
半导体集成电路静态读/ 写存储器空白详细规范(可供认证用)
-
GB/T 38447-2020
微机电系统(MEMS)技术 MEMS结构共振疲劳试验方法
-
GB/T 17865-1999
焦深与最佳聚焦的测量规范
-
GB/T 12843-1991
半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理
-
SJ 52438/14-2004
混合集成电路HPA501J型功率放大器详细规范
-
GB/T 6798-1996
半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
-
GB/T 15879.4-2019
半导体器件的机械标准化 第4部分:半导体器件封装外形的分类和编码体系
-
GB/T 14862-1993
半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法
-
GB/T 11497.1-1989
半导体集成电路CMOS电路系列和品种 54/74 HC 系列的品种
-
T/CIE 068-2020
工业级高可靠集成电路评价 第2部分:DC/DC变换器
-
GB/T 4855-1984
半导体集成电路线性放大器系列和品种
-
GB/T 20296-2012
集成电路记忆法与符号