收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 35010.3-2018 半导体芯片产品 第3部分:操作、包装和贮存指南
Semiconductor die products—Part 3: Guide for handling, packing and storage
基本信息
-
标准号:
GB/T 35010.3-2018
-
名称:
半导体芯片产品 第3部分:操作、包装和贮存指南
-
英文名称:
Semiconductor die products—Part 3: Guide for handling, packing and storage
-
状态:
现行
-
类型:
国家标准
-
性质:
推荐性
-
发布日期:
2018-03-15
-
实施日期:
2018-08-01
-
废止日期:
暂无
-
相关公告:
实施公告【关于批准发布《半导体集成电路 电压调整器测试方法》等20项国家标准的公告】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
集成电路、微电子学(31.200)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
微电路(L55/59)
微电路综合(L55)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 14027.7-1992
半导体集成电路通信电路系列和品种 数字交换系统接口电路系列品种
-
GB 11498-1989
膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)(可供认证用)
-
GB/T 6814-1986
半导体集成非线性电路系列和品种 模拟开关的品种
-
GB/T 13068-1991
半导体集成电路系列和品种 磁敏传感器用系列的品种
-
SJ/T 2406-2018
微波电路型号命名方法
-
SJ 2817-1987
膜集成电路和混合集成电路外形尺寸
-
GB/T 14030-1992
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
-
GB/T 14029-1992
半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
-
GB/T 17023-1997
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第二篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族规范
-
GB/T 17571-1998
碱性二次电池和电池组 扣式密封镉镍可充整体电池组
-
GB/T 26113-2010
微机电系统(MEMS)技术 微几何量评定总则
-
GB/T 14027.2-1992
半导体集成电路通信电路系列和品种 脉码调制编译码器系列品种
-
GB/T 33929-2017
MEMS高g值加速度传感器性能试验方法
-
GB/T 3435-1987
半导体集成CMOS电路系列和品种 4000系列的品种
-
GB/T 13062-2018
半导体器件 集成电路 第21-1部分:膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)
-
SJ/T 11706-2018
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
-
SJ/Z 11356-2006
片上总线属性规范
-
GB/T 14031-1992
半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
-
GB/T 13069-1991
半导体集成电路系列和品种 数控机床用系列的品种
-
GB/T 32814-2016
硅基MEMS制造技术 基于SOI硅片的MEMS工艺规范