收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 35010.3-2018 半导体芯片产品 第3部分:操作、包装和贮存指南
Semiconductor die products—Part 3: Guide for handling, packing and storage
基本信息
-
标准号:
GB/T 35010.3-2018
-
名称:
半导体芯片产品 第3部分:操作、包装和贮存指南
-
英文名称:
Semiconductor die products—Part 3: Guide for handling, packing and storage
-
状态:
现行
-
类型:
国家标准
-
性质:
推荐性
-
发布日期:
2018-03-15
-
实施日期:
2018-08-01
-
废止日期:
暂无
-
相关公告:
实施公告【关于批准发布《半导体集成电路 电压调整器测试方法》等20项国家标准的公告】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
集成电路、微电子学(31.200)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
微电路(L55/59)
微电路综合(L55)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 9424-1998
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第五篇 CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范
-
SJ/T 11708-2018
功率电机驱动器测试方法
-
GB/T 16525-1996
塑料有引线片式载体封装引线框架规范
-
GB 12199-1990
非广播盒式磁带录像机环境要求和试验方法
-
GB/T 36474-2018
半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法
-
GB/T 13069-1991
半导体集成电路系列和品种 数控机床用系列的品种
-
GB/T 14620-1993
薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
-
GB/T 17866-1999
掩模缺陷检查系统灵敏度分析所用的特制缺陷掩模和评估测量方法准则
-
GB/T 7092-1993
半导体集成电路外形尺寸
-
GB/T 15878-1995
小外形封装引线框架规范
-
SJ/T 11699-2018
IP核可测性设计指南
-
GB/T 28276-2012
硅基MEMS制造技术 体硅溶片工艺规范
-
GB/T 14024-1992
内燃机电站无线电干扰特性的测量方法及允许值 传导干扰
-
GB/T 12842-1991
膜集成电路和混合膜集成电路术语
-
GB/T 15861-1995
离子束蚀刻机通用技术条件
-
GB/T 32814-2016
硅基MEMS制造技术 基于SOI硅片的MEMS工艺规范
-
GB/T 15877-2013
半导体集成电路 蚀刻型双列封装引线框架规范
-
GB/T 11497.2-1989
半导体集成电路CMOS电路系列和品种 54/74 HCT 系列的品种
-
GB 3430-1989
半导体集成电路型号命名方法
-
GB/T 15136-1994
半导体集成电路石英钟表电路测试方法的基本原理