• 当前位置：
    首页 规范标准 GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
收藏到云盘
纠错反馈

GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 35007-2018
  • 名称：
    半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
  • 英文名称：
    Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2018-03-15
  • 实施日期：
    2018-08-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    实施公告【关于批准发布《半导体集成电路 电压调整器测试方法》等20项国家标准的公告】
    • 阅读或下载 使用APP、PC客户端等功能更强大
    • 网页在线阅读 体验阅读、搜索等基本功能
    • 用户分享资源 来自网友们上传分享的文件
    • 纸书购买 平台官方及网友推荐
分类信息
  • ICS分类：
    【 电子学（31） 集成电路、微电子学（31.200） 】
  • CCS分类：
    【 电子元器件与信息技术（L） 微电路（L55/59） 半导体集成电路（L56） 】
  • 行标分类：
    暂无
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    本标准规定了半导体集成电路 低电压差分信号（LVDS，low voltage differential signaling）电路（以下称为“器件”）静态参数、动态参数测试方法的基本原理。本标准适用于低电压差分信号电路静态参数、动态参数的测试。
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 引用标准：
    GB/T 17574-1998
相关部门
  • 起草单位：
    工业和信息化部电子第五研究所 工业和信息化部电子工业标准化研究院 中国电子科技集团公司第二十九研究所 成都振芯科技股份有限公司 深圳市国微电子有限公司 深圳市众志联合电子有限公司
  • 归口单位：
    全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
  • 主管部门：
    工业和信息化部（电子）
相关人员
暂无
关联标准
  • GB/T 6813-1986 半导体集成非线性电路系列和品种 时基电路的品种
  • GB/T 15862-1995 离子注入机通用技术条件
  • GB/T 15509-1995 半导体集成电路系列和品种 彩电遥控器用电路系列的品种
  • GB/T 17574.10-2003 半导体器件 集成电路 第2-10部分:数字集成电路 集成电路动态读/写存储器空白详细规范
  • SJ/Z 11356-2006 片上总线属性规范
  • GB/T 15877-1995 蚀刻型双列封装引线框架规范
  • SJ 20075-1992 半导体集成电路Jμ8259A型可编程中断控制器详细规范
  • GB/T 19403.1-2003 半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)
  • GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
  • GB/T 20296-2006 集成电路记忆法与符号
  • GB/T 3435-1987 半导体集成CMOS电路系列和品种 4000系列的品种
  • GB/T 11493-1989 半导体集成电路外壳空白详细规范
  • GB/T 26112-2010 微机电系统（MEMS）技术 微机械量评定总则
  • GB/T 36474-2018 半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法
  • SJ/Z 11359-2006 集成电路IP核开发与集成的功能验证分类法
  • GB/T 4377-1996 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理
  • GB/T 16465-1996 膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用能力批准程序)
  • GB/T 7092-1993 半导体集成电路外形尺寸
  • GB/T 4376-1994 半导体集成电路 电压调整器系列和品种
  • GB/T 3432.3-1989 半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74S系列的品种
用户分享资源

GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法

Semiconductor integrated circuits—Measur... 上传文件 注:本列表内文件主要来源于网友们的分享上传。如您发现有不正确不合适的内容，请及时联系客服
纠错反馈
GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
提交反馈
分类列表
确定
上传文件
完全匿名 前台匿名 显示用户名 点击选择文件
{{uploadFile.name}} {{uploadFile.sizeStr}}
目前支持上传小于100MB的PDF、OCF、OCS格式文件
注:您上传文件即代表同意平台可以公开给所有用户下载。平台会根据您的选择及实际情况，为您发放相应的直接或分成奖励。平台也可以根据实际情况需要，对您上传到服务器的文件进行调整隐藏删除等，而无需通知到您。
联系客服

纸书购买链接招商中，联系客服入驻

客服QQ： 2449276725 1455033258

1098903864 1969329120

客服电话：0379-80883238

电子邮箱：ocsyun@126.com