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GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 35007-2018
  • 名称：
    半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
  • 英文名称：
    Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2018-03-15
  • 实施日期：
    2018-08-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    实施公告【关于批准发布《半导体集成电路 电压调整器测试方法》等20项国家标准的公告】
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分类信息
  • ICS分类：
    【 电子学（31） 集成电路、微电子学（31.200） 】
  • CCS分类：
    【 电子元器件与信息技术（L） 微电路（L55/59） 半导体集成电路（L56） 】
  • 行标分类：
    暂无
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    本标准规定了半导体集成电路 低电压差分信号（LVDS，low voltage differential signaling）电路（以下称为“器件”）静态参数、动态参数测试方法的基本原理。本标准适用于低电压差分信号电路静态参数、动态参数的测试。
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 引用标准：
    GB/T 17574-1998
相关部门
  • 起草单位：
    工业和信息化部电子第五研究所 工业和信息化部电子工业标准化研究院 中国电子科技集团公司第二十九研究所 成都振芯科技股份有限公司 深圳市国微电子有限公司 深圳市众志联合电子有限公司
  • 归口单位：
    全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
  • 主管部门：
    工业和信息化部（电子）
相关人员
暂无
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