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GB/T 35006-2018 半导体集成电路 电平转换器测试方法

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of level converter
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 35006-2018
  • 名称：
    半导体集成电路 电平转换器测试方法
  • 英文名称：
    Semiconductor integrated circuits—Measuring method of level converter
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2018-03-15
  • 实施日期：
    2018-08-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    实施公告【关于批准发布《半导体集成电路 电压调整器测试方法》等20项国家标准的公告】
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    本标准规定了半导体集成电路电平转换器（以下称为器件）功能、静态参数和动态参数的测试方法。本标准适用于半导体集成电路电平转换器功能、静态参数和动态参数的测试。
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 引用标准：
    GB/T 17574-1998
相关部门
  • 归口单位：
    2) 全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会(SAC/TC 78/SC
  • 主管部门：
    2) 全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会(SAC/TC 78/SC
  • 起草单位：
    工业和信息化部电子第五研究所 中国电子科技集团公司第五十八研究所 成都振芯科技股份有限公司 深圳市国微电子有限公司
相关人员
暂无
关联标准