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GB/T 35006-2018 半导体集成电路 电平转换器测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of level converter
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
集成电路、微电子学（31.200）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
微电路（L55/59）
半导体集成电路（L56）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
归口单位：
2)
全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会(SAC/TC
78/SC
-
主管部门：
2)
全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会(SAC/TC
78/SC
-
起草单位：
工业和信息化部电子第五研究所
中国电子科技集团公司第五十八研究所
成都振芯科技股份有限公司
深圳市国微电子有限公司
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