收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 35005-2018 集成电路倒装焊试验方法
Test methods for flip chip integrated circuits
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
集成电路、微电子学(31.200)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
微电路(L55/59)
微电路综合(L55)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 7092-1993
半导体集成电路外形尺寸
-
YD/T 3944-2021
人工智能芯片基准测试评估方法
-
SJ/T 11704-2018
微电子封装的数字信号传输特性测试方法
-
GB/T 16527-1996
硬面感光板中光致抗蚀剂和电子束抗蚀剂规范
-
GB/T 33929-2017
MEMS高g值加速度传感器性能试验方法
-
SJ/Z 11358-2006
集成电路IP核模型分类法
-
T/CIE 068-2020
工业级高可靠集成电路评价 第2部分:DC/DC变换器
-
SJ/Z 11352-2006
集成电路IP核测试数据交换格式和准则规范
-
GB/T 17023-1997
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第二篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族规范
-
GB/T 15876-2015
半导体集成电路 塑料四面引线扁平封装引线框架规范
-
GB/T 12844-1991
半导体集成电路非线性电路系列和品种 采样/ 保持放大器的品种
-
GB/T 35002-2018
微波电路 频率源测试方法
-
GB/T 32817-2016
半导体器件 微机电器件 MEMS总规范
-
GB/T 14028-2018
半导体集成电路 模拟开关测试方法
-
GB/T 20296-2006
集成电路记忆法与符号
-
GB/T 28276-2012
硅基MEMS制造技术 体硅溶片工艺规范
-
SJ/Z 11355-2006
集成电路IP/SoC功能验证规范
-
GB/T 35008-2018
串行NOR型快闪存储器接口规范
-
GB/T 14029-1992
半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
-
GB/T 20296-2012
集成电路记忆法与符号