收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 35005-2018 集成电路倒装焊试验方法
Test methods for flip chip integrated circuits
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
集成电路、微电子学(31.200)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
微电路(L55/59)
微电路综合(L55)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 20296-2006
集成电路记忆法与符号
-
GB/T 33922-2017
MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法
-
SJ/T 10805-2000
半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
-
GB/T 14027.6-1992
半导体集成电路通信电路系列和品种 频率合成器系列品种
-
GB/T 16526-1996
封装引线间电容和引线负载电容测试方法
-
GB/T 17574-1998
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
-
GB/T 32817-2016
半导体器件 微机电器件 MEMS总规范
-
GB/T 15879-1995
半导体器件的机械标准化 第5部分:用于集成电路载带自动焊(TAB)的推荐值
-
GB/T 17865-1999
焦深与最佳聚焦的测量规范
-
GB/T 34893-2017
微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法
-
GB/T 17940-2000
半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
-
GB/T 19248-2003
封装引线电阻测试方法
-
GB/T 4376-1994
半导体集成电路 电压调整器系列和品种
-
GB/T 15138-1994
膜集成电路和混合集成电路外形尺寸
-
GB/T 35086-2018
MEMS电场传感器通用技术条件
-
GB/T 6813-1986
半导体集成非线性电路系列和品种 时基电路的品种
-
GB/T 15878-2015
半导体集成电路 小外形封装引线框架规范
-
GB/T 15136-1994
半导体集成电路石英钟表电路测试方法的基本原理
-
GB/T 14619-1993
厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
-
GB/T 18500.1-2001
半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第一篇:线性数字/模拟转换器(DAC)空白详细规范