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GB/T 35003-2018 非易失性存储器耐久和数据保持试验方法
Test methods for endurance and data retention of non-volatile memory
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
集成电路、微电子学（31.200）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
微电路（L55/59）
半导体集成电路（L56）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
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起草单位：
中国电子技术标准化研究院
上海复旦微电子集团股份有限公司
中国电子科技集团公司第五十八研究所
成都华微电子科技有限公司
北京兆易创新科技股份有限公司
深圳国微电子有限公司
-
归口单位：
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC
78)
-
主管部门：
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC
78)
相关人员
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